Вебинар «JTAG-тестирование плат на ПЛИС: Россия — Китай»

16 марта в 15:00 (мск) компания JTAG Technologies проведет вебинар на тему «JTAG-тестирование плат на ПЛИС: Россия — Китай». Этот выпуск в первую очередь привлечет внимание тех, кто занимается построением сложной, в том числе космической, аппаратуры на ПЛИС. Однако мероприятие заинтересует не только таких специалистов, ведь тесты, которые покажут эксперты, должны работать и на других компонентах, поддерживающих периферийное сканирование. Для тестов специалисты подготовили две отладочные платы: с микросхемой BQR3000 (радиационно стойкая FPGA от Пекинского технологического института ...

JTAG ProVision 2020 — новая версия ПО для разработки тестов периферийного сканирования

Компания JTAG Technologies объявила о выходе новой версии флагманского ПО для разработки тестов периферийного сканирования — JTAG ProVision 2020. Обновления, которых давно ожидали пользователи, отражают меняющуюся электронику, помогают справиться с тестированием плат любой сложности и с любым набором исходных CAD-данных. Среди новшеств в ProVision 2020 — интеграция с платформой JTAG Live, уже давно известной российским пользователям. Это делает возможным применение наработок, полученных ранее в JTAG Live Studio, в профессиональной среде JTAG ProVision. Кроме этого, сам проект в JTAG ...

Первая в России конференция пользователей систем периферийного сканирования

2 июня 2015 года в Санкт-Петербурге прошла первая всероссийская конференция пользователей систем периферийного сканирования JTAG Technologies. Мероприятие собрало инженеров более чем 20 отечественных предприятий.