Предварительная программа II Всероссийской конференции «Тестирование и испытание изделий электронной техники».
Обзор НТД по испытанию и тестированию изделий электронной техники (ИЭТ) на всех стадиях жизненного цикла.
Входной контроль компонентов и комплектующих узлов.
Элементы входного контроля при внутрисхемном тестировании. Докладчик: представитель ЗАО «Остек-Электро».
Практический опыт применения диагностического неразрушающего контроля в испытаниях ЭКБ». Докладчик: Иван Булаев, ОАО «Российские космические системы».
Механические испытания, в том числе динамические.
Климатические испытания.
Испытания на надежность.
Автоматизация испытаний ЭКБ на надежность в испытательном центре. Докладчик: Андрей Кулибаба, ОАО «Российские космические системы».Испытания на электробезопасность.
Испытания на электромагнитную совместимость.
Функциональные тесты и испытания.
Наборы «сделай сам» для изготовления оснастки для функционального контроля, особенности проектирования спецоснастки для тестирования серийно выпускаемого изделия. Докладчик: представитель ЗАО «Остек-Электро».
Тестирование моточных изделий и электрических машин. Докладчик: представитель ЗАО «Остек-Электро».
Современные автоматы для внутрисхемного тестирования. Докладчик: представитель ЗАО «Остек-Электро».
Особенности и требования к испытанию и тестированию спецтехники. Докладчик: представитель ОАО «Субмикрон».
Электроконтроль
JTAG-тестирование на уровне многоплатных систем: практический опыт. Докладчик: Виктор Ли, НПП НТТ.
Интеграция периферийного сканирования с другими методами структурного тестирования. Докладчик: Алексей Иванов, JTAG Technologies.
Программно-аппаратные средства проведения испытаний.
Мастер-класс по работе в бесплатной программе JTAG Live Buzz. Ведущий: Гиви Чхутиашвили, JTAG Technologies.
отправка...