Платформа IC-CAP 2012 для характеризации и моделирования электронных компонентов

Компания Agilent объявила о начале поставок последней версии платформы для экстракции параметров электронных компонентов IC-CAP.
В новой версии САПР IC-CAP реализованы радикальные изменения в способах хранения, анализа и выбора данных для моделирования, что значительно повышает производительность рабочего процесса и обеспечивает целостность данных и масштабируемость результатов моделирования. Модуль WaferPro — решение для автоматизированных измерений — входит в состав САПР IC-CAP и имеет доступ к базе данных SQL, созданной в модуле IC-CAP Database.

Еще один новый модуль, который интегрируется с IC-CAP Database, называется DataPro. С помощью этого модуля производится быстрый анализ и выбор данных для процесса экстракции параметров конечной модели.

Точное описание процесса изменения параметров технологического процесса при моделировании современных технологий изготовления полупроводниковых приборов стало главным требованием разработчиков. На ранних этапах процесса моделирования ПО IC-CAP WaferPro дает возможность инженерам выполнить комплекс разнообразных измерений и собрать большой объем данных для статистического анализа. Запись этой информации непосредственно в базу данных упрощает ее хранение, повышает безопасность и удобство работы с ней, а также позволяет чрезвычайно быстро выполнять сложные поисковые запросы. ПО DataPro помогает определять и отбраковывать кристаллы с физическими дефектами или со значительными отклонениями характеристик от среднестатистических значений. Далее программа выполняет статистический анализ данных заданного типа и определяет типовой (эталонный) кристалл и кристалл с максимальными допустимыми отклонениями, чтобы использовать их параметры для экстракции модели.

Быстрый анализ и выбор данных

Новый модуль Agilent W8503 IC-CAP DataPro может напрямую обращаться к базе данных или библиотеке файлов. Удобный интерфейс позволяет пользователю выбирать информацию нужного типа для статистического анализа. Можно выбрать, например, информацию, представленную в виде графиков ВАХ (зависимость Id от Vd) или конкретные значения, например Vth или Idmax. Модуль запускает статистический анализ выбранных данных и рассчитывает математические ожидания и дисперсии. Результаты могут быть представлены пользователю в графической форме, например в виде гистограмм, так, чтобы пользователь мог просматривать и сами данные, и их распределение, и при этом проводить отбраковку. Далее модуль определяет типовой образец кристалла, чтобы использовать его для экстракции модели типового изделия, и кристалл с максимально допустимыми отклонениями для моделирования предельных отклонений.

Новые возможности IC-CAP 2012.01

В дополнение к модулю DataPro и поддержке базы данных SQL у IC-CAP 2012.01 появились новые возможности и усовершенствования, например, сократился объем оперативной памяти, необходимой для работы программы (в пять раз), что позволило загружать объемные файлы с данными, и появился драйвер для параметрических анализаторов серии Agilent B2900A. Также были усовершенствованы уже имеющиеся драйверы для анализаторов источников питания постоянного тока, которые теперь поддерживают измерения во временной области и измерения с более высоким разрешением. Кроме того, для IC-CAP 2012.01 вводится новый упрощенный порядок лицензирования и изменяется структура продукта. Основные измерения включают введение новых модулей.

• Пакет программ моделирования Modeling Suite заменен новым пакетом W8500.
• В составе платформы появился новый программный продукт — W8520 Instrument Connectivity, в который входят все драйверы.
• Во все пакеты экстракции для КМОП-структур включены пакеты для Target и Corner моделирования.

Платформа Agilent IC-CAP — это программное обеспечение для моделирования компонентов, предоставляющее разработчику мощные инструменты для описания и анализа параметров полупроводниковых приборов. Обеспечивая эффективную и точную экстракцию параметров моделей активных компонентов и схем, IC-CAP решает многочисленные задачи моделирования, включая управление контрольно-измерительными приборами, сбор данных, графический анализ, моделирование и оптимизацию. IC-CAP используется при разработке и производстве интегральных схем для расчета параметров технологических процессов.