Новая версия САПР для моделирования и измерения параметров полупроводниковых приборов от Keysight Technologies

Компания Keysight Technologies объявила о выпуске новой версии лучшего в отрасли пакета ПО для моделирования и измерения параметров полупроводниковых приборов: Integrated Circuits Characterization and Analysis Program (IC-CAP) 2016, Model Builder Program (MBP) 2016 и Model Quality Assurance (MQA) 2016. Новые версии ПО предоставляют разработчикам, занятым измерением параметров и моделированием полупроводниковых приборов, дополнительные преимущества и повышают эффективность их работы.

САПР IC-CAP 2016компании Keysight предназначена для моделирования полупроводниковых приборов и содержит разнообразные функции измерения параметров и их анализа, использующие современные технологии моделирования полупроводников. САПР IC-CAP 2016 предоставляет полное решение DynaFET System для моделирования транзисторов с высокой подвижностью электронов (HEMT) на основе GaN и GaAs, широко применяемых в ВЧ-усилителях мощности. В САПР IC-CAP предусмотрены программные средства измерения и моделирования, позволяющие извлекать модели DynaFET, используемые в САПР Advanced Design System (ADS). Эти модели разработаны специально для моделирования HEMT-транзисторов на основе GaAs и GaN.

Основное преимущество модели ADS DynaFET — ее способность точно предсказывать динамические эффекты памяти, порожденные тепловыми эффектами и эффектами захвата носителей заряда, что, в свою очередь, дает непревзойденную точность прогнозирования усиления и КПД добавленной мощности (PAE) — двух ключевых параметров ВЧ-усилителей мощности. Специальное измерительное ПО регистрирует данные в режиме большого сигнала с помощью анализатора нелинейных электрических цепей (NVNA) компании Keysight. Затем сигналы, представляющие динамические нагрузочные линии, измеренные при разных значениях ВЧ-мощности, смещения и выходного импеданса, передаются в модуль извлечения моделей в IC-CAP 2016. Здесь выполняется извлечение модели с помощью технологии искусственной нейронной сети, после чего полученная модель может непосредственно использоваться в САПР ADS.

Другой важной особенностью САПР IC-CAP 2016 является повышенная скорость измерений с инструментальными драйверами для приборов Keysight E5270, B1500A и B1505A — до трех раз по сравнению с предыдущими версиям. Подобная скорость позволяет быстрее собрать большие объемы данных, на что обычно уходит много времени, поскольку измерения выполняются с высокой точностью. Кроме того, в IC-CAP 2016 добавлены новые инструментальные драйверы для поддержки анализатора импеданса Keysight E4990 и анализатора электрических цепей E5061B.

ПО Keysight MBP 2016 представляет собой универсальное решение, обеспечивающее автоматическое и гибкое высокопроизводительное моделирование, а ПО MQA 2016 предлагает полное решение и интегрированную среду для проверки, сравнения и документирования библиотек моделей SPICE, предназначенную для разработчиков, не имеющих собственных производственных мощностей, вертикально интегрированных (IDM) и контрактных производителей ИС. Модуль извлечения моделей, входящий в состав ПО MBP 2016, модернизирован с целью поддержки промышленного стандарта BSIM-IMG версии 102.6. Он обеспечивает структуру FDSOI (полностью обедненный кремний на изоляторе), широко применяемую в технологиях менее 28 нм, причем компания Keysight продолжает работать над созданием технологий моделирования, использующих модель Leti-UTSOI.

Помимо всего прочего, в составе ПО MBP 2016 имеется новый модуль статистической угловой настройки, который дополнительно повышает эффективность повседневного моделирования. Он содержит все необходимые компоненты для настройки или автоматической оптимизации, включая готовые цели и графики.

ПО MQA 2016 обеспечивает улучшенную поддержку расширенной библиотеки 16-нм интерфейса моделирования TSMC (TMI) и смешанного синтаксиса SPICE. Последняя функция очень важна, поскольку с уменьшением технологических норм библиотеки моделей SPICE становятся все сложнее. Кроме того, ПО MQA 2016 поддерживает 64-разрядные операционные системы, что предоставляет возможность загрузки данных и управления библиотеками моделей большого объема.