Обновления линейки оборудования для измерения ионных загрязнений

Компания Gen3 Systems представляет обновленную линейку систем для контроля ионных загрязнений.

Обновления линейки оборудования для измерения ионных загрязнений

На рынок поступили новые модели — CM22 и CM33. Внедрение данных новинок сделало линейку оборудования CM для проверки степени ионных загрязнений более гибкой и позволило представлять оборудование во всех ценовых категориях.

Сейчас в состав линейки CM входят из:

  • CM11+ — настольная система для мелкосерийных производств.
  • CM22 — отдельно стоящая система с высокоточной измерительной ячейкой.
  • CM33 — отдельно стоящая система с высокоточной измерительной ячейкой для печатных плат с большим размером.
  • CM66 — высокоскоростная система с высокоточной измерительной ячейкой для печатных плат с большим размером.
Модель Размеры, мм
CM 11+ 250×300×36
CM 22 250×350×60
CM 33 500×350×60
610×610×90
CM60 500×350×60
CM 66  610×610×90

Компания «УниверсалПрибор»

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *