Авторам
Редакция
О журнале
Реклама
Спецпроект Microchip
Спецпроект LTSpice
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
DSP и обработка сигналов
JTAG тестирование
RFID и системы идентификации
АЦП и ЦАП
Беспроводные технологии
Встраиваемые системы
ВЧ и СВЧ компоненты
Датчики
Дисплеи
Защита по току и напряжению
Измерительное оборудование
Интерфейсы
Источники питания
Пассивные компоненты
Микроконтроллеры
Микропроцессоры
Микросхемы памяти ОЗУ и ПЗУ
Операционные усилители
Светотехника
Осциллографы
Печатные платы и монтаж
ПЛИС и ПАИС
ПЛК и промышленные компьютеры
Разъемы
Рынок электронных компонентов
САПР
Силовая электроника
Специализированные микросхемы
Схемотехника и проектирование
Телекоммуникации
Технологии
Электронные компоненты
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
Группа КРЕМНИЙ ЭЛ
Dow-Key
FARADAY Electronics
Temex-Ceramics
Litemax Electronics
SEDMAX
ЭРЕМЕКС
Rakon
GSI Technology
TSMC
Harwin
АКРП
LTSpice
Semicom
ММП-Ирбис
RU Electronics
Прософт
Fluke
Active Technologies
Sintrones
Radiall
Futaba
Molex
Wieland
Microsemi
Cadence
Phytec
Электровыпрямитель
ЕА-Elektro-Automatik
Keko Varicon
Реклама
Компоненты и технологии №4’2011
JTAG тестирование
Цифровое тестирование на основе стандарта IEEE 1445
FPGA и ПЛИС в JTAG-тестировании