• Авторам
  • Редакция
  • О журнале
  • Реклама
  • Спецпроект Microchip
  • Войти
  • |
  • Регистрация
  • Свежий номер
  • Подписка
  • Архив номеров

Меню

Skip to content
  • DSP и обработка сигналов
  • JTAG тестирование
  • RFID и системы идентификации
  • АЦП и ЦАП
  • Беспроводные технологии
  • Встраиваемые системы
  • ВЧ и СВЧ компоненты
  • Датчики
  • Дисплеи
  • Защита по току и напряжению
  • Измерительное оборудование
  • Интерфейсы
  • Источники питания
  • Пассивные компоненты
  • Микроконтроллеры
  • Микропроцессоры
  • Микросхемы памяти ОЗУ и ПЗУ
  • Операционные усилители
  • Светотехника
  • Осциллографы
  • Печатные платы и монтаж
  • ПЛИС и ПАИС
  • ПЛК и промышленные компьютеры
  • Разъемы
  • Рынок электронных компонентов
  • САПР
  • Силовая электроника
  • Специализированные микросхемы
  • Схемотехника и проектирование
  • Телекоммуникации
  • Технологии
  • Электронные компоненты
Подписка на новости
отправка...

Облако меток

СимметронПАО «Микрон»Rohde & SchwarzИнкотексMelexisNational SemiconductorРадЭлAimtecАО «НИИЭТ»GSI TechnologySTMicroelectronicsCoilcraftMentor GraphicsFTDIНовая Инженерная ШколаHoneywellICEpowerFarnellAnsysWeidmullerOmronSensonorЭкспоЭлектроникаTDK-LambdaОАО «ИНТЕГРАЛ»ММП-ИрбисFreescaleROHMe2vTexas Instruments

Реклама

  • Электро-2021

Компоненты и технологии №2’2011

Рынок электронных компонентов

  • Основной смысл работы «ЭлТех СПб» — это подбор и трансфер современных технологий

JTAG тестирование

  • Тестирование трехмерных чипов, содержащих межуровневые перемычки. Часть 1
  • Взаимосвязь стандартов тестирования IEEE P1687 и IEEE 1149.7
Наши проекты:
© Copyright 2021 Компоненты и технологии — журнал об электронных компонентах