Микроэлектронные датчики физических величин на основе МЭМС-технологий
28 февраля, 2011
Введение Стремительное развитие технологии микроэлектроники открывает широкие возможности оснащения современных изделий ракетно-космической, авиационной и гражданской техники новыми датчиками физических величин. Эти датчики являются основными элементами информационно-измерительных систем на различных этапах эксплуатации, отличающихся воздействием широкого диапазона температур, ионизирующих излучений и жестких электромагнитных помех. В связи с этим постоянно растут требования к устройствам сбора информации — датчикам […]Проблемы выбора интерфейсов
18 марта, 2008
Результатом борьбы с этой проблемой стала стандартизация интерфейсов, что обеспечивает возможность соединения устройств, созданных в разное время разными производителями. Весьма обширную тему разговора об интерфейсах можно несколько сузить, сконцентрировавшись на стандартах (протоколах), реализованных в виде микросхем. Проблема выбора типа микросхемы и производителя также имеет свою специфику, поскольку производители ограничены жесткими рамками стандартов и варианты могут […]Расширение возможностей параметрического анализатора Agilent Technologies
3 июля, 2013
Расширение возможностей параметрического анализатора Agilent Technologies