отправка...JTAG тестирование
JTAG testing
Данная колонка Ами Городецкого публикуется ежемесячно, представляя собой краткие обзоры отдельных аспектов структурного тестирования и тестопригодного проектирования электронных схем и узлов.
Об авторе: Ами Городецкий, к. т. н., технический директор компании JTAG.TECT, имеет более чем 30-летний опыт успешных разработок стратегий тестирования электронных схем. Область научных интересов, преподавательской и инженерной деятельности охватывает методологии тестопригодного проектирования (DFT) и технологии граничного сканирования JTAG (IEEE 1149.1, 1149.4, 1149.6, 1149.7, 1532, 1500, P1581).