II Всероссийская научная конференция «Проблемы СВЧ-электроники»

Московский институт электроники и математики Национального исследовательского университета «Высшая школа экономики» (МИЭМ НИУ ВШЭ) и компания Keysight Technologies приглашают принять участие во II Всероссийской научной конференции «Проблемы СВЧ-электроники», которая состоится 26–28 октября 2015 года в Москве.

• Время проведения: 26–28 октября 2015 года.
• Место проведения: Москва, МИЭМ НИУ ВШЭ (Таллинская ул., д. 34).

В ходе конференции будут обсуждаться наиболее значимые вопросы, возникающие в процессе работы в данной области, тенденции, а также области применения и варианты использования СВЧ-технологий в научных исследованиях и разработках. Ведущие эксперты в области СВЧ познакомят с новейшими научными и технологическими достижениями, актуальными направлениями исследований в области радиотехники, радиофизики, СВЧ-электроники, технологии радиоэлектронного приборостроения, информационных технологий. На конференции будут заслушаны приглашенные обзорные доклады, оригинальные сообщения о новых результатах исследований и разработок в виде устных и стендовых докладов, а также т проведено специальное заседание, посвященное сравнительному анализу и применению вакуумных и твердотельных приборов миллиметрового и субмиллиметрового диапазонов.

Конференцию «Проблемы СВЧ-электроники» 26 октября откроет день «Инновационные решения Keysight Technologies». Цель данного проекта — обсуждение развития научно-исследовательской и инновационной деятельности в России и вклад компании Keysight в распространении новейших технологий для решения инженерных проблем, их использование для автоматизации производства ВЧ/СВЧ-устройств; моделирования; повышения эффективности и уровня обучения студентов техническим дисциплинам; привлечение молодых специалистов в область перспективных научных поисков.

В рамках конференции будут представлены развернутые доклады ведущих специалистов компании Keysight Technologies. Эксперты Keysight Technologies проведут технические презентации и интерактивные мастер-классы, посвященные инновационным достижениям техники и профессиональным решениям Keysight Technologies. Участники конференции смогут услышать о последних тенденциях развития технологий измерительного оборудования и специализированных программных средствах.

С полной программой конференции можно ознакомиться на сайте.

Заявки на участие в конференции необходимого прислать на e-mail:SeminarPE2007@ya.ru.