Семинар «Тестирование полупроводниковых приборов с помощью измерительного оборудования Agilent Technologies, зондовых станций Cascade Microtech и тюнеров импеданса Maury Microwave»

С 1 по 2 июня 2011 года компании Agilent Technologies, Cascade Microtech и Maury Microwaves проводят уникальный совместный семинар «Тестирование полупроводниковых приборов с помощью измерительного оборудования Agilent Technologies, зондовых станций Cascade Microtech и тюнеров импеданса Maury Microwave».

Для успешной разработки современных микроэлектронных устройств требуется качественное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току, а также в СВЧ- и миллиметровом диапазоне, которое в большинстве случаев выполняется на полупроводниковых пластинах. Компания Agilent Technologies совместно с компаниями Cascade Microtech и Maury Microwave предлагает функционально законченные решения, которые включают в себя параметрические анализаторы, анализаторы цепей и САПР компании Agilent Technologies, зондовые станции компании Cascade Microtech и тюнеры импеданса компании Maury Microwave.

Программа семинара:

День 1. Измерения по постоянному току
Agilent Technologies

  • Представление новых источников/измерителей Agilent B2900A
  • Новые измерительные возможности B1500A и B1505A
  • Решения для измерений ВФХ (CV)
  • Возможности системы Agilent 4080 для тестирования на производстве
Cascade Microtech

  • IV и CV измерения на пластине с помощью зондовых станций
 
День 2. Измерения в СВЧ- и миллиметровом диапазоне
Agilent Technologies

  • Представление 67-ГГц модели PNA-Х
  • Измерение коэффициента шума, КУ, интермодуляционных искажений
  • Нелинейный векторный анализ цепей (NVNA), X-параметры
Cascade Microtech

  • Измерения в СВЧ-диапазоне на пластине с помощью зондовых станций
Maury Microwave

  • Применение тюнеров импеданса для измерения параметров транзисторов

За подробной информацией необходимо обращаться по телефону +7 (495) 797-3928 или направлять заявки по e-mail: tmo_russia@agilent.com.

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *