Существует распространенное мнение о том, что если топологическая норма, используемая при производстве микросхем, больше, чем 0,2 мкм, то микросхема является радиационно-стойкой. Не останавливаясь на достоверности этого утверждения, заметим, что из него не следует, что микросхемы с меньшей топологической нормой обязательно должны обладать слабой радиационной стойкостью. В статье рассматриваются...

Рассматриваются вопросы повышения достоверности и точности оценки радиационной стойкости радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов расчетными методами и проблемы оценки стойкости, связанные с применением в аппаратуре электронных компонентов иностранного производства, а также приводятся пути решения этих проблем.