Методика измерения КСВН переходов с коаксиальной линии на печатные платы СВЧ-устройств

Предлагается методика измерения КСВН переходов с коаксиальной линии на печатные платы СВЧ-устройств (СВЧ-вводов), аналогичная методике измерений, изложенной в статье [1], но отличающаяся учетом потерь в полосковой линии печатной платы. Приведены формулы для оценки величины погрешности измерения КСВН.

Исследование динамических характеристик средств измерений в среде VisSim и Mathcad

Исследована зависимость переходной характеристики линейных средств измерений от коэффициента затухания. Построены амплитудно-частотная и фазочастотная характеристики, а также годограф устойчивости средств измерений в зависимости от коэффициента затухания. Результаты исследований могут быть полезны при проектировании оптимальных по быстродействию или динамической точности измерительных приборов ...

Работа с виртуальными приборами в программной среде NI Circuit Design Suite — Multisim 12.0. Часть 2

Мы продолжаем серию публикаций о работе с виртуальными приборами в программной среде NI Circuit Design Suite — Multisim. В статье рассмотрены особенности работы с такими инструментами, как ваттметр, функциональный генератор, логический преобразователь, двухканальный осциллограф и амперметр. При написании этого цикла статей использовалась программная среда Multisim 12.0. Программ...

Разработка контроллера протокола MIL-STD‑1553B на ПЛИС. Часть 3

В предыдущей, второй части статьи автор начал рассматривать HDL-код проекта на ПЛИС, который описывает контроллер авиационного протокола MIL-STD 1553B. Из всех модулей были рассмотрены передатчик (Transmitter.v) и приемник (Receiver.v). Были приведены временные диаграммы для лучшего понимания кода модулей. Модули передатчика и приемника обеспечивают декодирование и кодирование слов стандарта M...

Двоичные счетчики повышенной надежности

В статье рассматриваются структуры двоичных счетчиков с резервированием и восстановлением работоспособности.

Усилители и НЧ-фильтры для прецизионных АЦП последовательного приближения

АЦП последовательного приближения обладают высокой разрядностью, точностью и низким энергопотреблением. Выбрав АЦП, инженер-разработчик должен решить несколько принципиальных вопросов для получения наилучшего результата преобразования: рассчитать схему входного каскада, выбрать интерфейс для входного аналогового сигнала АЦП, а также цифровой интерфейс и определиться с источником опорного напряж...

Измеритель температуры и влажности на базе датчика Silicon Labs Si7005 и дисплейного модуля 4D System uLCD‑43PT

В статье приведен пример простого приложения для измерения температуры и влажности и рассказано о новом цифровом датчике температуры и влажности компании Silicon Labs Si7005. Производство датчиков Si7005 было начато в 2012 году, но до сих пор они не получили такой известности, как их аналоги от Sensirion и Honeywell. Хотя сейчас эти датчики Silicon Labs имеют самую низкую цену на нашем рынке.

Расчет зависимости минимальной длительности времени переключения p-i-n-диодов от рабочей частоты

При разработке любого устройства для обеспечения требуемых характеристик очень важно еще на этапе эскизного проектирования правильно выбрать элементную базу. Это даст возможность сократить время разработки. В статье приведено полученное выражение, позволяющее оценить возможность практической реализации коммутирующего устройства на p-i-n диодах по критерию обеспечения требуемой длительности рад...

Определение характеристик случайных процессов, распределенных по закону Накагами

В статье приведены полученные числовые значения асимметрии, контрэксцесса и энтропийного коэффициента для распределения Накагами. Определена функциональная зависимость параметра формы от контрэксцесса. Предложена техническая реализация, обеспечивающая измерения параметра формы распределения Накагами.

Особенности экспериментального определения динамических характеристик микросхем для построения IBIS-моделей

В статье рассматриваются особенности измерения динамических параметров цифровых интегральных схем для построения их IBIS-моделей. Дается краткое представление о назначении и возможностях использования IBIS-моделей, обозначаются стандартные динамические характеристики, требующие измерения. Предлагается модель оценки влияния частотных свойств пробников-делителей и осциллографов на отображение имп...