Расширенное решение для анализа и тестирования на соответствие стандарту MHL 2.1

Компания Tektronix, Inc. объявила о выпуске единственного в отрасли одноприборного решения для тестирования на соответствие стандарту Mobile High-Definition Link (MHL) версии 2.1 согласно последним спецификациям CTS. Это решение охватывает тесты передатчиков (Tx), приемников (Rx), донглов и кабелей для физического уровня (PHY) и уровня протокола.

Спецификация MHL разработана компаниями Nokia, Samsung Electronics, Silicon Image, Sony и Toshiba в качестве стандарта для подключения телефонов и портативных устройств к телевизорам высокой четкости и дисплеям большого размера. Технология MHL позволяет мобильным устройствам выводить цифровую аудио/видеоинформацию высокого качества при одновременной зарядке батареи устройства. Применение интерфейса MHL охватывает такие изделия, как смартфоны, планшеты, цифровые телевизоры, ТВ-принадлежности, плееры Blu-ray Disc, аудио/видео (AV) ресиверы, мониторы, проекторы, адаптеры, автомобильные принадлежности, кабели и многое другое. В новой спецификации MHL CTS 2.1 добавлена возможность тестирования непосредственно подключаемых устройств и кабелей, предоставляются также новые методы измерения «глазковых» диаграмм и джиттера тактовой частоты — и все эти тесты поддерживаются Tektronix.

Инновационное ПО для анализа протокола MHL расширяет возможности осциллографов реального времени Tektronix, таких как DPO/DSA/MSO70000, используемых для проверки физического уровня, представляя собой законченное решение для тестирования протокола MHL. Это одноприборное решение обеспечивает гладкий переход между физическим и канальным уровнями.

Эффективность тестирования дополнительно повышается за счет прямого синтеза сигналов, подаваемых на приемники и донглы, что позволяет точно генерировать сигналы MHL, в том числе искажения, необходимые для соответствия требованиям спецификаций MHL CTS 2.1. С помощью прямого синтеза можно создавать более простые и воспроизводимые схемы тестирования и сократить затраты по сравнению со сложными решениями по внесению искажений в испытательный сигнал.

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *