JTAG тестирование

JTAG testing

[*pagetitle*]

Данная колонка Ами Городецкого публикуется ежемесячно, представляя собой краткие обзоры отдельных аспектов структурного тестирования и тестопригодного проектирования электронных схем и узлов.

   
 Об авторе: Ами Городецкий, к. т. н., технический директор компании JTAG.TECT, имеет более чем 30-летний опыт успешных разработок  стратегий тестирования электронных схем.  Область  научных интересов, преподавательской и инженерной деятельности охватывает методологии  тестопригодного проектирования (DFT) и  технологии  граничного сканирования JTAG (IEEE 1149.1, 1149.4, 1149.6, 1149.7, 1532, 1500, P1581).

  amigo@jtag-test.ru

 

 

 

 

 

 

 

Статьи по JTAG:

[!ArticlesList!]

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *