Осциллографы расширяют возможности отладки системы JTAG
Стандарт JTAG, который называют также стандартом IEEE 1149.1, — один из самых успешных в электронике. Разработанный более 20 лет назад для производственного тестирования устройств на печатных платах, он продолжает совершенствоваться и используется сейчас практически во всех изделиях с печатным монтажом. Кроме того, этот стандарт нашел применение в большом числе интегральных схем (ИС), где он ст...
Диагностика последовательных шин в ПЛИС становится быстрее
Субмегабитные последовательные шины встречаются в большинстве конструкций с ПЛИС. Простота изготовления последовательных шин, их низкая цена и связь с привычными конструкторскими решениями делают их идеальными для применения в различных отраслях промышленности.
Мониторинг микропроцессорного ядра MicroBlaze с использованием логических анализаторов
Логические анализаторы обеспечивают возможность высокоэффективного анализа цифровых устройств, а также предоставляют гибкую систему условий запуска для проверки работы программного обеспечения. Такого рода измерения позволяют выявить события, приводящие к отказу устройства, оптимизировать программное обеспечение, а также расширяют возможности анализа взаимодействия аппаратных и программных частей.