Термином JTAG обозначают совокупность средств и операций, позволяющих проводить тестирование БИС без физического доступа к каждому ее выводу.

В данной работе рассматривается прогнозирование деградации параметров ТТЛ ИС с использованием нейронных сетей и системы MATLAB/Simulink (на примере деградации наихудших значений параметра выходного напряжения низкого уровня UOL по результатам испытаний на долговечность в течение 150 тыс. ч выборки из 20 ТТЛ ИС типа 133ЛА8 и выборки из 20 ТТЛ ИС типа 133ЛР3) как альтернатива прогнозир...