В статье объясняется причина смещения интереса в сторону архитектуры АИС на синтетических приборах, рассматривается отличие архитектуры синтетического прибора от архитектуры традиционного измерительного прибора и обсуждается возможность реализации высоких технических характеристик при выполнении измерений в рамках синтетического прибора.