Авторам
Редакция
О журнале
Реклама
Спецпроект Microchip
Спецпроект LTSpice
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
DSP и обработка сигналов
JTAG тестирование
RFID и системы идентификации
АЦП и ЦАП
Беспроводные технологии
Встраиваемые системы
ВЧ и СВЧ компоненты
Датчики
Дисплеи
Защита по току и напряжению
Измерительное оборудование
Интерфейсы
Источники питания
Пассивные компоненты
Микроконтроллеры
Микропроцессоры
Микросхемы памяти ОЗУ и ПЗУ
Операционные усилители
Светотехника
Осциллографы
Печатные платы и монтаж
ПЛИС и ПАИС
ПЛК и промышленные компьютеры
Разъемы
Рынок электронных компонентов
САПР
Силовая электроника
Специализированные микросхемы
Схемотехника и проектирование
Телекоммуникации
Технологии
Электронные компоненты
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
Temex-Ceramics
ЭРЕМЕКС
Molex
Litemax Electronics
Semicom
Glenair Inc.
Microsemi
GSI Technology
Cadence
ASML
Phytec
Прософт
ЕА-Elektro-Automatik
Futaba
Alliance Memory
ММП-Ирбис
Active Technologies
Rakon
Keko Varicon
Coupletech
Sintrones
Radiall
Wieland
НТЦ «Модуль»
Waka
Fluke
Компэл
АКРП
Электровыпрямитель
ИНЕЛСО
Реклама
Смирнов Дмитрий
Возможность отбраковки полупроводниковых приборов по уровню низкочастотного шума
Низкочастотные шумы полупроводниковых изделий, как наиболее специфические для этих изделий, могут служить для прогнозирования их качества и надежности.