Авторам
Редакция
О журнале
Реклама
Спецпроект Microchip
Спецпроект LTSpice
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
DSP и обработка сигналов
JTAG тестирование
RFID и системы идентификации
АЦП и ЦАП
Беспроводные технологии
Встраиваемые системы
ВЧ и СВЧ компоненты
Датчики
Дисплеи
Защита по току и напряжению
Измерительное оборудование
Интерфейсы
Источники питания
Пассивные компоненты
Микроконтроллеры
Микропроцессоры
Микросхемы памяти ОЗУ и ПЗУ
Операционные усилители
Светотехника
Осциллографы
Печатные платы и монтаж
ПЛИС и ПАИС
ПЛК и промышленные компьютеры
Разъемы
Рынок электронных компонентов
САПР
Силовая электроника
Специализированные микросхемы
Схемотехника и проектирование
Телекоммуникации
Технологии
Электронные компоненты
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
ADEL System
Ланит
DWIN Technology
НПК «Марафон»
Leaderdrive
CDIL
CML Microcircuits
Schrack Technik
TME
Выставки
Amplifier Research
GSI Technology
РТСофт
Диполь
SMIC
SEMIKRON
Gpixel
Peregrine Semiconductor
Apple
Галфвинд
Teledyne
Sonitron
Plessey Semiconductors Ltd.
ACTEL
Philips
ММП-Ирбис
Оптрон-Ставрополь
Александер Электрик
КБ «Икар»
ZEZ SILKO
Реклама
Смирнов Дмитрий
Возможность отбраковки полупроводниковых приборов по уровню низкочастотного шума
Низкочастотные шумы полупроводниковых изделий, как наиболее специфические для этих изделий, могут служить для прогнозирования их качества и надежности.