Авторам
Редакция
О журнале
Реклама
Спецпроект Microchip
Спецпроект LTSpice
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
DSP и обработка сигналов
JTAG тестирование
RFID и системы идентификации
АЦП и ЦАП
Беспроводные технологии
Встраиваемые системы
ВЧ и СВЧ компоненты
Датчики
Дисплеи
Защита по току и напряжению
Измерительное оборудование
Интерфейсы
Источники питания
Пассивные компоненты
Микроконтроллеры
Микропроцессоры
Микросхемы памяти ОЗУ и ПЗУ
Операционные усилители
Светотехника
Осциллографы
Печатные платы и монтаж
ПЛИС и ПАИС
ПЛК и промышленные компьютеры
Разъемы
Рынок электронных компонентов
САПР
Силовая электроника
Специализированные микросхемы
Схемотехника и проектирование
Телекоммуникации
Технологии
Электронные компоненты
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
ACTEL
TME
Plessey Semiconductors Ltd.
Leaderdrive
GSI Technology
НПК «Марафон»
Sonitron
Галфвинд
SMIC
Александер Электрик
Apple
DWIN Technology
CML Microcircuits
РТСофт
Peregrine Semiconductor
Диполь
Amplifier Research
Выставки
Teledyne
CDIL
SEMIKRON
КБ «Икар»
Ланит
Schrack Technik
Philips
ZEZ SILKO
ММП-Ирбис
ADEL System
Gpixel
Оптрон-Ставрополь
Реклама
Роланд Барри (Barry Rowland)
Анализ характеристик импульсного источника питания постоянного тока
В статье рассматривается вопрос о тестировании импульсных источников электропитания на основе накопительной индуктивности. Проанализированы основные контролируемые параметры, и приведен пример их определения в пусковом режиме.