Авторам
Редакция
О журнале
Реклама
Спецпроект Microchip
Спецпроект LTSpice
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
DSP и обработка сигналов
JTAG тестирование
RFID и системы идентификации
АЦП и ЦАП
Беспроводные технологии
Встраиваемые системы
ВЧ и СВЧ компоненты
Датчики
Дисплеи
Защита по току и напряжению
Измерительное оборудование
Интерфейсы
Источники питания
Пассивные компоненты
Микроконтроллеры
Микропроцессоры
Микросхемы памяти ОЗУ и ПЗУ
Операционные усилители
Светотехника
Осциллографы
Печатные платы и монтаж
ПЛИС и ПАИС
ПЛК и промышленные компьютеры
Разъемы
Рынок электронных компонентов
САПР
Силовая электроника
Специализированные микросхемы
Схемотехника и проектирование
Телекоммуникации
Технологии
Электронные компоненты
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
Выставки
ZEZ SILKO
Leaderdrive
Amplifier Research
SMIC
Sonitron
ASIX Electronics
Галфвинд
РТСофт
Gpixel
Schrack Technik
ММП-Ирбис
ADEL System
DWIN Technology
Plessey Semiconductors Ltd.
Teledyne
НПК «Марафон»
Peregrine Semiconductor
Диполь
Apple
CDIL
Александер Электрик
TME
ACTEL
КБ «Икар»
SEMIKRON
Philips
GSI Technology
CML Microcircuits
Оптрон-Ставрополь
Реклама
Роланд Барри (Barry Rowland)
Анализ характеристик импульсного источника питания постоянного тока
В статье рассматривается вопрос о тестировании импульсных источников электропитания на основе накопительной индуктивности. Проанализированы основные контролируемые параметры, и приведен пример их определения в пусковом режиме.