Авторам
Редакция
О журнале
Реклама
Спецпроект Microchip
Спецпроект LTSpice
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
DSP и обработка сигналов
JTAG тестирование
RFID и системы идентификации
АЦП и ЦАП
Беспроводные технологии
Встраиваемые системы
ВЧ и СВЧ компоненты
Датчики
Дисплеи
Защита по току и напряжению
Измерительное оборудование
Интерфейсы
Источники питания
Пассивные компоненты
Микроконтроллеры
Микропроцессоры
Микросхемы памяти ОЗУ и ПЗУ
Операционные усилители
Светотехника
Осциллографы
Печатные платы и монтаж
ПЛИС и ПАИС
ПЛК и промышленные компьютеры
Разъемы
Рынок электронных компонентов
САПР
Силовая электроника
Специализированные микросхемы
Схемотехника и проектирование
Телекоммуникации
Технологии
Электронные компоненты
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
AnaPico
Sencera
Оптрон-Ставрополь
Plessey Semiconductors Ltd.
МосЭП
SEMIKRON
Carlisle
Cervoz
Winmate
Sonitron
ACTEL
Abracon Corporation
Syfer
НИИМА «Прогресс»
Beisit Electric Tech
Samsung Display
НПО «ЭРКОН»
Ortus Technology
BIWIN
RUICHI
Александер Электрик
ZEZ SILKO
НПК «Марафон»
OEwaves
ММП-Ирбис
Tianma Microelectronics
Выставки
GSI Technology
ВЗПП
Гириконд
Реклама
Роланд Барри (Barry Rowland)
Анализ характеристик импульсного источника питания постоянного тока
В статье рассматривается вопрос о тестировании импульсных источников электропитания на основе накопительной индуктивности. Проанализированы основные контролируемые параметры, и приведен пример их определения в пусковом режиме.