Авторам
Редакция
О журнале
Реклама
Спецпроект Microchip
Спецпроект LTSpice
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
DSP и обработка сигналов
JTAG тестирование
RFID и системы идентификации
АЦП и ЦАП
Беспроводные технологии
Встраиваемые системы
ВЧ и СВЧ компоненты
Датчики
Дисплеи
Защита по току и напряжению
Измерительное оборудование
Интерфейсы
Источники питания
Пассивные компоненты
Микроконтроллеры
Микропроцессоры
Микросхемы памяти ОЗУ и ПЗУ
Операционные усилители
Светотехника
Осциллографы
Печатные платы и монтаж
ПЛИС и ПАИС
ПЛК и промышленные компьютеры
Разъемы
Рынок электронных компонентов
САПР
Силовая электроника
Специализированные микросхемы
Схемотехника и проектирование
Телекоммуникации
Технологии
Электронные компоненты
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
Галфвинд
DWIN Technology
РТСофт
Оптрон-Ставрополь
ММП-Ирбис
Plessey Semiconductors Ltd.
КБ «Икар»
Apple
Ланит
НПК «Марафон»
Sonitron
CML Microcircuits
ADEL System
Amplifier Research
TME
ACTEL
Выставки
Schrack Technik
Philips
Александер Электрик
CDIL
Peregrine Semiconductor
GSI Technology
ZEZ SILKO
Teledyne
Leaderdrive
SMIC
Диполь
SEMIKRON
Gpixel
Реклама
Рагозин Михаил
Цифровой запоминающий характериограф полупроводниковых приборов Л2-100 ТЕКО
В статье описывается новый цифровой запоминающий характериограф полупроводниковых приборов Л2-100 ТЕКО, который может служить современной заменой легендарного измерителя Л2-56 и обладает превосходным соотношением «цена — возможности».