В статье представлена схема со встроенной структурой самотестирования (ВСТ), предназначенной для диагностики неисправностей, которая может быть использована для обнаружения постоянных и не зависящих от адресации неисправностей во встроенных ПЗУ. О писанный подход состоит из простой последовательности тестов, не требующей интенсивного взаимодействия между контроллером ВСТ и аппаратурой тестир...