Авторам
Редакция
О журнале
Реклама
Спецпроект Microchip
Спецпроект LTSpice
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
DSP и обработка сигналов
JTAG тестирование
RFID и системы идентификации
АЦП и ЦАП
Беспроводные технологии
Встраиваемые системы
ВЧ и СВЧ компоненты
Датчики
Дисплеи
Защита по току и напряжению
Измерительное оборудование
Интерфейсы
Источники питания
Пассивные компоненты
Микроконтроллеры
Микропроцессоры
Микросхемы памяти ОЗУ и ПЗУ
Операционные усилители
Светотехника
Осциллографы
Печатные платы и монтаж
ПЛИС и ПАИС
ПЛК и промышленные компьютеры
Разъемы
Рынок электронных компонентов
САПР
Силовая электроника
Специализированные микросхемы
Схемотехника и проектирование
Телекоммуникации
Технологии
Электронные компоненты
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
КБ «Икар»
Галфвинд
Leaderdrive
Sonitron
CML Microcircuits
Schrack Technik
Выставки
SMIC
Apple
GSI Technology
Teledyne
Оптрон-Ставрополь
ACTEL
ZEZ SILKO
Gpixel
Peregrine Semiconductor
Amplifier Research
SEMIKRON
ADEL System
CDIL
Диполь
РТСофт
ММП-Ирбис
Plessey Semiconductors Ltd.
ASIX Electronics
Александер Электрик
Philips
DWIN Technology
TME
НПК «Марафон»
Реклама
Лисовский Дмитрий
Цифровой запоминающий характериограф полупроводниковых приборов Л2-100 ТЕКО
В статье описывается новый цифровой запоминающий характериограф полупроводниковых приборов Л2-100 ТЕКО, который может служить современной заменой легендарного измерителя Л2-56 и обладает превосходным соотношением «цена — возможности».