Авторам
Редакция
О журнале
Реклама
Спецпроект Microchip
Спецпроект LTSpice
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
DSP и обработка сигналов
JTAG тестирование
RFID и системы идентификации
АЦП и ЦАП
Беспроводные технологии
Встраиваемые системы
ВЧ и СВЧ компоненты
Датчики
Дисплеи
Защита по току и напряжению
Измерительное оборудование
Интерфейсы
Источники питания
Пассивные компоненты
Микроконтроллеры
Микропроцессоры
Микросхемы памяти ОЗУ и ПЗУ
Операционные усилители
Светотехника
Осциллографы
Печатные платы и монтаж
ПЛИС и ПАИС
ПЛК и промышленные компьютеры
Разъемы
Рынок электронных компонентов
САПР
Силовая электроника
Специализированные микросхемы
Схемотехника и проектирование
Телекоммуникации
Технологии
Электронные компоненты
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
ММП-Ирбис
Rakon
Sintrones
Wieland
Molex
Прософт
Cadence
Futaba
НТЦ «Модуль»
Semicom
Fluke
Microsemi
Электровыпрямитель
Coupletech
ЕА-Elektro-Automatik
Keko Varicon
АКРП
Alliance Memory
Компэл
Glenair Inc.
Waka
Radiall
ИНЕЛСО
GSI Technology
ЭРЕМЕКС
ASML
Active Technologies
Phytec
Temex-Ceramics
Litemax Electronics
Реклама
Лисовский Дмитрий
Цифровой запоминающий характериограф полупроводниковых приборов Л2-100 ТЕКО
В статье описывается новый цифровой запоминающий характериограф полупроводниковых приборов Л2-100 ТЕКО, который может служить современной заменой легендарного измерителя Л2-56 и обладает превосходным соотношением «цена — возможности».