Новые возможности анализа вольтамперных характеристик полупроводниковых приборов

Рассмотрены новые возможности анализа полупроводниковых приборов и структур, предоставляемые измерителем параметров ИППП-1 при совместном использовании с графическим постпроцессором Probe.