Первые разработки в области внутрисхемного тестирования в 1970-х годах стимулировались высокой стоимостью, сложностью, неполным обнаружением неисправностей и неудобством в обслуживании производственных систем функционального тестирования. В результате внутрисхемное тестирование стало более популярным, чем функциональное тестирование в конце производственного цикла. Однако в 1990-х сама концепци...