Иванов Алексей
Два подхода к тестированию кластеров в технологии периферийного сканирования
Технология периферийного (граничного) сканирования позволяет нам независимо от функций ядра соответствующей микросхемы управлять ее выводами, используя всем известный интерфейс JTAG. Сам интерфейс и архитектура периферийного сканирования (дополнительные тестовые регистры) закреплены в стандарте IEEE 1149.1, и, соответственно, если микросхема поддерживает данный стандарт, то у нас есть отличная ...
Оптимизация тестовой стратегии при производстве цифровой техники
На протяжении долгого времени изделия в электронной промышленности
испытывались путем проверки их функционирования и основных электрических параметров. Эта стратегия широко используется и сейчас, практически никак не развиваясь, так как проверка качества и работоспособности
изделий проводится по одному и тому же принципу: работает/не работает.
Более того, эффективность такого рода тестирован...
Новые возможности тестирования плат при помощи периферийного сканирования
Изначальный вариант заголовка этой статьи звучал так: «Новые возможности периферийного сканирования». Однако если вдуматься, то периферийное сканирование — это стандарт, который не менялся уже много лет. Определяет он логику регистров сканирования и JTAG-интерфейс микросхем, которые используются на тестируемых платах. Поэтому возможности периферийного сканирования изменяться никак не могут. Иск...