2 июня 2015 года в Санкт-Петербурге прошла первая всероссийская конференция пользователей систем периферийного сканирования JTAG Technologies. Мероприятие собрало инженеров более чем 20 отечественных предприятий.

Технология периферийного (граничного) сканирования позволяет нам независимо от функций ядра соответствующей микросхемы управлять ее выводами, используя всем известный интерфейс JTAG. Сам интерфейс и архитектура периферийного сканирования (дополнительные тестовые регистры) закреплены в стандарте IEEE 1149.1, и, соответственно, если микросхема поддерживает данный стандарт, то у нас есть отличная ...

На протяжении долгого времени изделия в электронной промышленности испытывались путем проверки их функционирования и основных электрических параметров. Эта стратегия широко используется и сейчас, практически никак не развиваясь, так как проверка качества и работоспособности изделий проводится по одному и тому же принципу: работает/не работает. Более того, эффективность такого рода тестирован...

Изначальный вариант заголовка этой статьи звучал так: «Новые возможности периферийного сканирования». Однако если вдуматься, то периферийное сканирование — это стандарт, который не менялся уже много лет. Определяет он логику регистров сканирования и JTAG-интерфейс микросхем, которые используются на тестируемых платах. Поэтому возможности периферийного сканирования изменяться никак не могут. Иск...