Первая в России конференция пользователей систем периферийного сканирования

2 июня 2015 года в Санкт-Петербурге прошла первая всероссийская конференция пользователей систем периферийного сканирования JTAG Technologies. Мероприятие собрало инженеров более чем 20 отечественных предприятий.

Два подхода к тестированию кластеров в технологии периферийного сканирования

Технология периферийного (граничного) сканирования позволяет нам независимо от функций ядра соответствующей микросхемы управлять ее выводами, используя всем известный интерфейс JTAG. Сам интерфейс и архитектура периферийного сканирования (дополнительные тестовые регистры) закреплены в стандарте IEEE 1149.1, и, соответственно, если микросхема поддерживает данный стандарт, то у нас есть отличная ...

Оптимизация тестовой стратегии при производстве цифровой техники

На протяжении долгого времени изделия в электронной промышленности испытывались путем проверки их функционирования и основных электрических параметров. Эта стратегия широко используется и сейчас, практически никак не развиваясь, так как проверка качества и работоспособности изделий проводится по одному и тому же принципу: работает/не работает. Более того, эффективность такого рода тестирован...

Новые возможности тестирования плат при помощи периферийного сканирования

Изначальный вариант заголовка этой статьи звучал так: «Новые возможности периферийного сканирования». Однако если вдуматься, то периферийное сканирование — это стандарт, который не менялся уже много лет. Определяет он логику регистров сканирования и JTAG-интерфейс микросхем, которые используются на тестируемых платах. Поэтому возможности периферийного сканирования изменяться никак не могут. Иск...