Снова о внутрисхемном тестировании ICT. Часть 2

В предыдущем номере журнала мы начали обсуждать различные аспекты применения внутрисхемного тестирования (ICT), популярность которого остается относительно постоянной на протяжении длительного времени. В нынешней и последующей колонках обсуждение будет продолжено с тем, чтобы всесторонне обрисовать применение этой методики тестирования.

Внутрисхемное программирование и JTAG-цепочки

Многие инженеры и техники, лишь понаслышке знающие о технологии JTAG и тестировании на ее основе, тем не менее постоянно сталкиваются с JTAG-протоколом при выполнении вполне рутинных операций внутрисхемного программирования (или конфигурирования) ПЛИС и FPGA.

Система JTAG-тестирования onTAP

Этот номер журнала планируется к выходу накануне выставки «ЭкспоЭлектроника-2011», в рамках которой я буду проводить семинар и мастеркласс «Технологии тестирования JTAG и тестопригодное проектирование», поэтому в этот раз я решил посвятить колонку обзору некоторых отличительных особенностей системы JTAG-тестирования onTAP фирмы Flynn Systems, вызывающей значительный интерес ...

FPGA и ПЛИС в JTAG-тестировании

Разработка и прогон JTAG-тестов межэлементных связей для схем, содержащих современные FPGA и ПЛиС, отличаются рядом особенностей, которые следует принимать во внимание уже на этапе разработки таких тестов, а иногда — даже на этапе разработки самих схем. Эти особенности связаны с отличиями в JTAG-структуре этих компонент до и после их конфигурирования.

Техническая диагностика цифровых устройств

Планируется, что нынешний номер журнала выйдет к выставке «Неразрушающий контроль и техническая диагностика в промышленности». Поэтому мне показалось своевременным посвятить колонку этого номе ра несколько позабытым в российской электронике аспектам неразру шающего контроля и технической диагностики, для начала — цифровых устройств.

Взаимосвязь стандартов тестирования IEEE P1687 и IEEE 1149.7

Две колонки нашего раздела [1, 2] уже были посвящены различным аспектам ожидаемого в скором времени стандарта тестопригодного проектирования IEEE P1687, а в [3] мы впервые вкратце рассмотрели недавно вышедший JTAG-стандарт IEEE 1149.7. В нынешней колонке мне предста...

Дистанционное JTAG-тестирование

Тестирование с применением технологий JTAG проводится, как правило, исключительно на тестовых стендах, предполагающих размещение JTAG-контроллера и управляющего компьютера с соответствующим программным обеспечением невдалеке от тестируемых узлов.

Применение осциллографов для визуализации протокола JTAG

Один из самых распространенных в исследовательских лабораториях приборов — осциллограф. Он может с успехом применяться для визуализации сигналов в цепях JTAG.

Неисправность монтажа BGA. Что делать? (Апрельские тезисы)

Тестирование в технологии граничного сканирования JTAG обуславливает высокий уровень разрешения при диагностике неисправностей печатных плат, существенно понижая вероятность ошибочного демонтажа исправной интегральной схемы BGA.

Стандарт тестопригодного проектирования IEEE P1687

Впервые о разработке нового JTAG-стандарта IEEE Р1687, который обещает стать, в сущности, первым стандартом тестопригодного проектирования (DFT), было упомянуто в начальной колонке рубрики «JTAG-тестирование» в [КиТ. 2009. № 2] более года назад, где на рис. 1 была приведена схема взрывообразного развития технологий JTAG-тестирования, а вкратце рассказано об этом стандарте в [КиТ. 2009. № 3]. Ра...