Авторам
Редакция
О журнале
Реклама
Спецпроект Microchip
Спецпроект LTSpice
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
DSP и обработка сигналов
JTAG тестирование
RFID и системы идентификации
АЦП и ЦАП
Беспроводные технологии
Встраиваемые системы
ВЧ и СВЧ компоненты
Датчики
Дисплеи
Защита по току и напряжению
Измерительное оборудование
Интерфейсы
Источники питания
Пассивные компоненты
Микроконтроллеры
Микропроцессоры
Микросхемы памяти ОЗУ и ПЗУ
Операционные усилители
Светотехника
Осциллографы
Печатные платы и монтаж
ПЛИС и ПАИС
ПЛК и промышленные компьютеры
Разъемы
Рынок электронных компонентов
САПР
Силовая электроника
Специализированные микросхемы
Схемотехника и проектирование
Телекоммуникации
Технологии
Электронные компоненты
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
Alliance Memory
Wieland
ЭРЕМЕКС
Fluke
Cadence
Futaba
Microsemi
Active Technologies
Rakon
АКРП
Semicom
GSI Technology
Glenair Inc.
Sintrones
Электровыпрямитель
Radiall
ЕА-Elektro-Automatik
ИНЕЛСО
Компэл
Waka
ММП-Ирбис
Phytec
Coupletech
Molex
НТЦ «Модуль»
ASML
Litemax Electronics
Прософт
Temex-Ceramics
Keko Varicon
Реклама
Форсайт Стюарт (Forsyth Stewart)
Как ускорить переход контрольно-измерительных приборов на решение задач 5G
Как подготовить контрольно-измерительное оборудование к переходу на 5G и максимально повысить его окупаемость, учитывая, что внедрение стандартов 5G начнется уже в ближайшие годы?