Авторам
Редакция
О журнале
Реклама
Спецпроект Microchip
Спецпроект LTSpice
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
DSP и обработка сигналов
JTAG тестирование
RFID и системы идентификации
АЦП и ЦАП
Беспроводные технологии
Встраиваемые системы
ВЧ и СВЧ компоненты
Датчики
Дисплеи
Защита по току и напряжению
Измерительное оборудование
Интерфейсы
Источники питания
Пассивные компоненты
Микроконтроллеры
Микропроцессоры
Микросхемы памяти ОЗУ и ПЗУ
Операционные усилители
Светотехника
Осциллографы
Печатные платы и монтаж
ПЛИС и ПАИС
ПЛК и промышленные компьютеры
Разъемы
Рынок электронных компонентов
САПР
Силовая электроника
Специализированные микросхемы
Схемотехника и проектирование
Телекоммуникации
Технологии
Электронные компоненты
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
Temex-Ceramics
Futaba
Litemax Electronics
NEC Tokin
Active Technologies
АКРП
Cadence
Электровыпрямитель
НТЦ «Модуль»
ЕА-Elektro-Automatik
Прософт
Fluke
Keko Varicon
GSI Technology
Microsemi
pSemi Corporation
Alliance Memory
ММП-Ирбис
Phytec
Sintrones
ЭРЕМЕКС
Coupletech
ИНЕЛСО
Dow-Key Microwave
ASML
Molex
Radiall
Semicom
Wieland
Rakon
Реклама
Форсайт Стюарт (Forsyth Stewart)
Как ускорить переход контрольно-измерительных приборов на решение задач 5G
Как подготовить контрольно-измерительное оборудование к переходу на 5G и максимально повысить его окупаемость, учитывая, что внедрение стандартов 5G начнется уже в ближайшие годы?