Авторам
Редакция
О журнале
Реклама
Спецпроект Microchip
Спецпроект LTSpice
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
DSP и обработка сигналов
JTAG тестирование
RFID и системы идентификации
АЦП и ЦАП
Беспроводные технологии
Встраиваемые системы
ВЧ и СВЧ компоненты
Датчики
Дисплеи
Защита по току и напряжению
Измерительное оборудование
Интерфейсы
Источники питания
Пассивные компоненты
Микроконтроллеры
Микропроцессоры
Микросхемы памяти ОЗУ и ПЗУ
Операционные усилители
Светотехника
Осциллографы
Печатные платы и монтаж
ПЛИС и ПАИС
ПЛК и промышленные компьютеры
Разъемы
Рынок электронных компонентов
САПР
Силовая электроника
Специализированные микросхемы
Схемотехника и проектирование
Телекоммуникации
Технологии
Электронные компоненты
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
GSI Technology
АКРП
НТЦ «Модуль»
Fluke
Wieland
Semicom
Keko Varicon
ИНЕЛСО
ММП-Ирбис
Coupletech
ASML
Active Technologies
Litemax Electronics
Sintrones
Компэл
Прософт
Futaba
Waka
Temex-Ceramics
ЕА-Elektro-Automatik
Phytec
Alliance Memory
Glenair Inc.
Cadence
Molex
Microsemi
Rakon
ЭРЕМЕКС
Radiall
Электровыпрямитель
Реклама
Бартлинг Джим (Jim Bartling)
Измерение уровня жидкости с помощью отраженного сигнала
В статье описано измерение уровня жидкостей с помощью отраженного сигнала (Time Domain Reflectometry — TDR).