Подписка на новости

Опрос

Нужны ли комментарии к статьям? Комментировали бы вы?

Реклама

 

Все статьи автора

Использование метода буферных цепей при тестопригодном проектировании JTAG-структур , (Компоненты и технологии №10'2012)

Граничное сканирование (JTAG) — давно и хорошо известный стандарт тестопригодного проектирования (IEEE 1149.1 Std), в котором используются регистры граничного сканирования, находящиеся между внешними контактами схемы и внутренней логикой чипа. В статье для тестопригодного проектирования и тестирования предлагается новый метод буферной цепи (МБЦ). Преимущества этого метода следующие: его легко реализовать при помощи существующих аппаратных средств фирмы Samsung; он эффективен для решения проблем post-layout на этапе pre-layout и сокращает время полного цикла разработки и тестирования JTAG-структур.