Подписка на новости

Опрос

Нужны ли комментарии к статьям? Комментировали бы вы?

Реклама

 

Все статьи автора

Трехконтактный тест — это реально!, (Компоненты и технологии №9'2011)

Широко распространенные в настоящее время процессоры обработки видеосигналов имеют всего три стандартных цифровых контакта на корпусе микросхемы. Всего несколько лет назад те, кто искал решения, каким образом построить производственный структурный тест для подобных сложных СБИС, могли довольствоваться ответами типа «это невозможно» или «сделай сам». Компания STMicroelectronics (STM) тоже столкнулась с подобной проблемой, и для ее решения были мобилизованы значительные внутренние ресурсы, а также ресурсы партнеров компании. В статье говорится о достижениях компании STM, которая смогла добиться в этой области впечатляющего прогресса, снизив стоимость теста и накладные расходы на единицу площади кремния, улучшив дизайн и оптимизировав производственные процессы и т. д. За три года компания усовершенствовала тестопригодность и улучшила тестовые характеристики для всего диапазона выпускаемых датчиков с оптическим зумом от 25× до 30×. Сейчас, когда решение найдено и реализовано на производстве, нам хотелось бы обсудить перспективы тестового сканирования с использованием всего трех контактов.