Подписка на новости

Опрос

Нужны ли комментарии к статьям? Комментировали бы вы?

Реклама

 

Все статьи автора

Первая в России конференция пользователей систем периферийного сканирования, (Компоненты и технологии №10'2015)

2 июня 2015 года в Санкт-Петербурге прошла первая всероссийская конференция пользователей систем периферийного сканирования JTAG Technologies. Мероприятие собрало инженеров более чем 20 отечественных предприятий.

Два подхода к тестированию кластеров в технологии периферийного сканирования, (Компоненты и технологии №10'2011)

Технология периферийного (граничного) сканирования позволяет нам независимо от функций ядра соответствующей микросхемы управлять ее выводами, используя всем известный интерфейс JTAG. Сам интерфейс и архитектура периферийного сканирования (дополнительные тестовые регистры) закреплены в стандарте IEEE 1149.1, и, соответственно, если микросхема поддерживает данный стандарт, то у нас есть отличная возможность «заглянуть» в недоступные области собранного печатного цифрового узла без необходимости применять измерительное оборудование, такое как мультиметр, осциллограф или логический анализатор. Все эти приборы требуют физического доступа к цепям или выводам платы, а периферийное сканирование использует встроенные тестовые ячейки, назначенные для большинства функциональных выводов ИМС. На сегодня десятки тысяч процессоров, ПЛИС, контроллеров и СБИС различного назначения поддерживают стандарт IEEE 1149.1. При этом существует не только возможность тестировать связи между компонентами с поддержкой периферийного сканирования, но и при помощи вышеупомянутых ячеек получить доступ к функциональной логике, окружающей эти компоненты.

Инструменты для периферийного сканирования: тестирование плат и отладка функциональных узлов, (Компоненты и технологии №9'2010)

Сравнительно недавно компания JTAG Technologies анонсировала новое направление отладки аппаратных средств под названием JTAG Live. Для этого в дополнение к основному сайту www.jtag-technologies.ru был запущен отдельный сайт www.jtaglive.ru. В чем кроется смысл такого разделения? Очевидно, что если это просто были бы примитивные средства тестирования с низким уровнем автоматизации, то разделение на два направления было бы не совсем понятно. Причина кроется в абсолютно разных задачах, которые призваны решать те и другие средства, а следовательно, и в разной целевой аудитории.

Оптимизация тестовой стратегии при производстве цифровой техники, (Компоненты и технологии №6'2010)

На протяжении долгого времени изделия в электронной промышленности испытывались путем проверки их функционирования и основных электрических параметров. Эта стратегия широко используется и сейчас, практически никак не развиваясь, так как проверка качества и работоспособности изделий проводится по одному и тому же принципу: работает/не работает. Более того, эффективность такого рода тестирования с каждым годом падает, а сложность осуществления и трудозатраты растут.

Новые возможности тестирования плат при помощи периферийного сканирования, (Компоненты и технологии №5'2010)

Изначальный вариант заголовка этой статьи звучал так: «Новые возможности периферийного сканирования». Однако если вдуматься, то периферийное сканирование — это стандарт, который не менялся уже много лет. Определяет он логику регистров сканирования и JTAG-интерфейс микросхем, которые используются на тестируемых платах. Поэтому возможности периферийного сканирования изменяться никак не могут. Исключением может стать появление новых стандартов. Изменяются лишь системы проектирования тестов и оборудование для тестирования, предоставляющее все больше возможностей. Современные цифровые платы становятся настолько сложными и насыщенными, что в один момент стандартный набор автоматических процедур генерации JTAG-тестов исчерпал себя. В этой связи производители программного обеспечения и оборудования для периферийного сканирования стали искать новые подходы к этому вопросу. В данной статье приводятся наиболее интересные с точки зрения автора новые возможности при проектировании тестов в программном обеспечении компании JTAG Technologies, одно из которых — это функциональный тест при помощи JTAG.