Подписка на новости

Опрос

Нужны ли комментарии к статьям? Комментировали бы вы?

Реклама

 

Все статьи автора

*Повышение долгосрочной надежности полупроводникового прибора с помощью медных выводных рамок, (Компоненты и технологии №4'2009)

Одной из определяющих характеристик, которой следует руководствоваться при выборе полупроводникового прибора, является надежность его корпуса в условиях эксплуатации электронной аппаратуры. Понимая всю важность этого фактора, компания ISSI недавно пополнила свою обширную серию изделий запоминающих устройств (ЗУ), предлагаемую в конструктивном исполнении с медными выводными рамками и содержащую статические ОЗУ (SRAM) и электрически стираемое программируемое ПЗУ (EEPROM), еще одним устройством — синхронным динамическим ОЗУ (DRAM). В настоящее время устройства DRAM и SRAM широко представлены в корпусах TSOP с выводными рамками из сплава Alloy42. Применение меди для выводных рамок способно повысить долгосрочную эксплуатационную надежность устройства за счет повышения прочности паяных соединений и улучшения рассеяния тепла. Более того, в этой серии на выводах DRAM используется припойное покрытие из сплава никель,палладий,золото, которое устраняет проблему роста нитевидных кристаллов, или «усов». Эти характеристики особенно важны для автомобильной, медицинской, индустриальной и телекоммуникационной электроники, долгосрочное безотказное функционирование которой является жизненно важным фактором для потребителя.