Подписка на новости

Опрос

Нужны ли комментарии к статьям? Комментировали бы вы?

Реклама

 

Все статьи автора

Технология Y.QuickScan — оперативная микрофокусная компьютерная томография (μСТ) для серийных полупроводниковых устройств и SMT-приложений, (Компоненты и технологии №4'2008)

Уменьшение размеров устройств, используемых в электронных и электромеханических компонентах и микросистемах, позволяет создавать еще более сложные и комплексные решения. Помимо других современных тенденций, трехмерные (3D) технологии компоновки определяют необходимость в проведении проверок качества с помощью микрофокусной компьютерной томографии (μСТ). На данный момент μСТ наиболее широко используется для контроля качества продукции, в исследовательской деятельности, при разработке новой продукции и для мониторинга высокотехнологичных процессов обработки, так как длительность проведения данной проверки не позволяет использовать ее для больших объемов образцов и для заводских испытаний. В данной статье описывается инновационное технологическое решение, Y.QuickScan, которое позволяет проводить μСТ-сканирование всего за несколько минут. Данное решение можно успешно использовать в индустрии производства полупроводниковых компонентов и SMT. Например, для анализа компоновки, который позволяет провести полную оценку расположения проводных соединений и целостности стековых кристаллов. Кроме того, это решение можно использовать для проверки бессвинцовых паяных соединений, даже тогда, когда они располагаются внутри сенсорных систем.