Авторам
Редакция
О журнале
Реклама
Спецпроект Microchip
Спецпроект LTSpice
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
DSP и обработка сигналов
JTAG тестирование
RFID и системы идентификации
АЦП и ЦАП
Беспроводные технологии
Встраиваемые системы
ВЧ и СВЧ компоненты
Датчики
Дисплеи
Защита по току и напряжению
Измерительное оборудование
Интерфейсы
Источники питания
Пассивные компоненты
Микроконтроллеры
Микропроцессоры
Микросхемы памяти ОЗУ и ПЗУ
Операционные усилители
Светотехника
Осциллографы
Печатные платы и монтаж
ПЛИС и ПАИС
ПЛК и промышленные компьютеры
Разъемы
Рынок электронных компонентов
САПР
Силовая электроника
Специализированные микросхемы
Схемотехника и проектирование
Телекоммуникации
Технологии
Электронные компоненты
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
Tianma Microelectronics
OEwaves
Samsung Display
Winmate
Cervoz
ВЗПП
Plessey Semiconductors Ltd.
ZEZ SILKO
НИИМА «Прогресс»
ACTEL
Beisit Electric Tech
AnaPico
Sencera
RUICHI
НПО «ЭРКОН»
Carlisle
SEMIKRON
НПК «Марафон»
Ortus Technology
BIWIN
Выставки
Sonitron
GSI Technology
ММП-Ирбис
МосЭП
Оптрон-Ставрополь
Александер Электрик
Abracon Corporation
Syfer
Гириконд
Реклама
Конденсаторы, резисторы, индуктивности
Capacitors, resistors
Добавить комментарий
Отменить ответ
Ваш адрес email не будет опубликован.
Обязательные поля помечены
*
Комментарий
*
Имя
*
Email
*
Сайт
Возможно, вам также будет интересно
Комплект ИС LinkCharge 40 от Semtech для беспроводных зарядных устройств мощностью 40 Вт
11 апреля, 2019
Корпорация Semtech представила новый комплект микросхем LinkCharge 40 — опорный проект и демонстрационные платы для создания беспроводных ЗУ мощностью 40 Вт, предназначенных для зарядки аккумуляторов устройств с высокой потребляемой мощностью: электроинструменты c аккумуляторным питанием, планшетные компьютеры и ноутбуки, кухонное оборудование, пылесосы и другая бытовая техника. Новое решение включает систему обнаружения инородных объектов, которая при попадании постороннего […]
Контроль содержания паров воды внутри корпусов интегральных микросхем
21 апреля, 2008
Развитие интегральных схем (ИС) связано с увеличением степени интеграции, то есть числа элементов на кристалле и функциональной сложности, что обеспечивается как уменьшением размеров элементов, в том числе ширины тонкопленочных проводников и зазоров между ними, так и увеличением площади кристалла. При этом площадь, занимаемая межсоединениями, увеличилась с 20% для ИС первой и второй степени интеграции и […]
Программное обеспечение для сбора и обработки данных при измерениях и испытаниях
18 марта, 2008
В этой части обзора представляются три старожила среди систем графического программирования для проведения измерений и испытаний. Первые два из них заметно выделяются из общей массы благодаря особенностям заложенной в них архитектуры.