2012
№12
Математические модели и технические устройства измерения характеристик случайных процессов с симметричными законами распределения вероятности
В статье приведены полученные числовые значения контрэксцесса и энтропийного коэффициента для широкого класса плосковершинных и островершинных симметричных распределений, включая трапецеидальные и экспоненциальные двусторонние. Предложена техническая реализация, обеспечивающая измерение плотности распределения вероятности случайных процессов, включая идентификацию вида распределения.
Статьи последних номеров доступны только в печатном варианте. Вы можете приобрести свежие номера журнала «Компоненты и технологии» в свободной продаже или заказать в редакции. Извините за доставленные неудобства.
Другие статьи по данной теме:
- Микросхемы с низким энергопотреблением от компании Analog Devices. Часть 2. Малопотребляющие АЦП
- Разработка VHDL-описаний цифровых устройств, проектируемых на основе ПЛИС фирмы Xilinx, с использованием шаблонов САПР ISE Design Suite. Часть 25.
- Новые керамические помехоподавляющие конденсаторы
- Применение межплатных соединителей Samtec QStrip серий QTH/QSH для высокоскоростной передачи данных в системах стандарта PCI Express 3‑го поколения с пропускной способностью 8 ГТ/с
- Формирование когерентных по фазе сигналов по 12 каналам с помощью системы AWG
- Графический контроллер EVE FT800 FTDI и микроконтроллер SAMD21 Atmel. Работаем с графическими изображениями
- Аналоговые компоненты фирмы Microchip
- Руководство по реализации схем с интерфейсами RS-485/RS-422