Моделирование инжекции заряда при переключении ключа

LTSpice позволяет разработчику оценить различные эффекты в электронных схемах, и в частности, рассмотренную инжекцию заряда при коммутации аналогового ключа. Предварительный расчет помогает взять под контроль процесс инжекции заряда, оказывающий влияние на точность измерительной системы.

Эффект инжекции заряда при переключении аналогового ключа

 В электронике активно применяются аналоговые ключи для коммутации сигналов, а также защиты входов и выходов измерительных схем. В своей основе современные аналоговые ключи имеют архитектуру, состоящую из пары n и pканального транзистора (рис. 1).

Внутренняя структура аналогового ключа

Рис. 1. Внутренняя структура аналогового ключа

Такая архитектура оптимальна для обеспечения низкого собственного сопротивления ключа в открытом состоянии при напряжениях вблизи уровней шин питания, поскольку сопротивление открытого канала Ron nканального транзистора повышается при приближении напряжения на входе (Vsource) к напряжению Vdd и наоборот — для pканального транзистора.

При этом из-за различия технологии изготовления n и pканального транзистора для балансировки сопротивления открытого канала каждого транзистора требуется полупроводниковая структура pMOS большей (примерно в 3 раза) площади.

Транзисторы обладают паразитной емкостью, которая перезаряжается при отпирании и запирании ключей. При переключении транзисторов на выход проходит импульс инжекции заряда (charge injection), способный повлиять на измерительные характеристики. Понизить влияние такого импульса можно при установке небольшой емкости CL на выходе.

Настройка выходного каскада ключа при помощи CL для уменьшения эффекта инжекции заряда

Рис. 2. Настройка выходного каскада ключа при помощи CL для уменьшения эффекта инжекции заряда

 

Моделирование эффекта в LTSPICE на примере ADG1208

Данный эффект включен в функционал SPICE-моделей аналоговых ключей производства Analog Devices. Рассмотрим этот эффект на примере ADG1208.

Схема включения ADG1208 для моделирования эффекта инжекции заряда

Рис. 3. Схема включения ADG1208 для моделирования эффекта инжекции заряда

На рис. 3 представлена схема включения ADG1208 для моделирования эффекта инжекции заряда. При этом на входы S1 и S2 подается напряжение 0 В, управляющий сигнал подается на A0.

Всплеск напряжения на выходе (Vout) схемы после примерно 80 нс от старта управляющего сигнала V_ctl

Рис. 4. Всплеск напряжения на выходе (Vout) схемы после примерно 80 нс от старта управляющего сигнала V_ctl

В результате (рис. 4) переключения состояния ADG1208 виден всплеск напряжения на выходе ключа примерно после 80 нс. Всплеск имеет величину 64 мВ в пике.

Для уменьшения пикового значения всплеска напряжения на выходе ключа рекомендуется установить небольшую емкость. Например, для емкости Cout = 1 нФ расчетное пиковое значение всплеска получается 520 мкВ.

Литература
  1. Manning M. Switch and Multiplexer Design Considerations for Hostile Environments. Analog Devices Technical Article.
  2. O’Sullivan P. Replacing Discrete Protection Components with Overvoltage Fault Protected Analog Switches. Analog Devices Technical Article.
  3. Материалы вебинара Arrow Electronics «Надежность тракта обработки аналогового сигнала» (по запросу).

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *

Разрешаю передать мой контактный e-mail компаниям Analog Devices и Arrow Electronics для предоставления дополнительной информации