Моделирование инжекции заряда при переключении ключа
Эффект инжекции заряда при переключении аналогового ключа
В электронике активно применяются аналоговые ключи для коммутации сигналов, а также защиты входов и выходов измерительных схем. В своей основе современные аналоговые ключи имеют архитектуру, состоящую из пары n— и p—канального транзистора (рис. 1).
Такая архитектура оптимальна для обеспечения низкого собственного сопротивления ключа в открытом состоянии при напряжениях вблизи уровней шин питания, поскольку сопротивление открытого канала Ron n—канального транзистора повышается при приближении напряжения на входе (Vsource) к напряжению Vdd и наоборот — для p—канального транзистора.
При этом из-за различия технологии изготовления n— и p—канального транзистора для балансировки сопротивления открытого канала каждого транзистора требуется полупроводниковая структура p—MOS большей (примерно в 3 раза) площади.
Транзисторы обладают паразитной емкостью, которая перезаряжается при отпирании и запирании ключей. При переключении транзисторов на выход проходит импульс инжекции заряда (charge injection), способный повлиять на измерительные характеристики. Понизить влияние такого импульса можно при установке небольшой емкости CL на выходе.
Моделирование эффекта в LTSPICE на примере ADG1208
Данный эффект включен в функционал SPICE-моделей аналоговых ключей производства Analog Devices. Рассмотрим этот эффект на примере ADG1208.
На рис. 3 представлена схема включения ADG1208 для моделирования эффекта инжекции заряда. При этом на входы S1 и S2 подается напряжение 0 В, управляющий сигнал подается на A0.
В результате (рис. 4) переключения состояния ADG1208 виден всплеск напряжения на выходе ключа примерно после 80 нс. Всплеск имеет величину 64 мВ в пике.
Для уменьшения пикового значения всплеска напряжения на выходе ключа рекомендуется установить небольшую емкость. Например, для емкости Cout = 1 нФ расчетное пиковое значение всплеска получается 520 мкВ.
- Manning M. Switch and Multiplexer Design Considerations for Hostile Environments. Analog Devices Technical Article.
- O’Sullivan P. Replacing Discrete Protection Components with Overvoltage Fault Protected Analog Switches. Analog Devices Technical Article.
- Материалы вебинара Arrow Electronics «Надежность тракта обработки аналогового сигнала» (по запросу).