Авторам
Редакция
О журнале
Реклама
Спецпроект Microchip
Спецпроект LTSpice
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
DSP и обработка сигналов
JTAG тестирование
RFID и системы идентификации
АЦП и ЦАП
Беспроводные технологии
Встраиваемые системы
ВЧ и СВЧ компоненты
Датчики
Дисплеи
Защита по току и напряжению
Измерительное оборудование
Интерфейсы
Источники питания
Пассивные компоненты
Микроконтроллеры
Микропроцессоры
Микросхемы памяти ОЗУ и ПЗУ
Операционные усилители
Светотехника
Осциллографы
Печатные платы и монтаж
ПЛИС и ПАИС
ПЛК и промышленные компьютеры
Разъемы
Рынок электронных компонентов
САПР
Силовая электроника
Специализированные микросхемы
Схемотехника и проектирование
Телекоммуникации
Технологии
Электронные компоненты
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
Ampire
Omron
STMicroelectronics
Texas Instruments
TST
Aimtec
АО «НИИЭТ»
ММП-Ирбис
Sensonor
Melexis
Honeywell
Rohde & Schwarz
ЭкспоЭлектроника
ICEpower
ROHM
FTDI
Инкотекс
Mentor Graphics
Coilcraft
Симметрон
Новая Инженерная Школа
Farnell
Weidmuller
ПАО «Микрон»
TDK-Lambda
e2v
РадЭл
National Semiconductor
Ansys
ОАО «ИНТЕГРАЛ»
Реклама
Методика оценивания возможности применения активной фазированной антенной решетки в радиолокационных станциях специального назначения
В статье рассмотрены основные принципы построения активной фазированной антенной решетки (АФАР). Представлены результаты анализа применимости АФАР в радиолокационных станциях специального назначения.