Все чаще современные компоненты объединяют несколько различных функций, имея существенно большее число выводов и, соответственно, повышенную сложность. А это, в свою очередь, делает весьма востребованными многопортовые измерения, которые позволяют гарантировать, что в реальных схемах компоненты будут вести себя так, как ожидается.

Проблемы защиты микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ) от воздействия мощного электромагнитного импульса, способного нарушить их нормальное действие или повредить внутренние элементы, приобрели в последнее время особую актуальность. В данной статье рассматривается комплекс вопросов, связанных с влиянием электромагнитного импульса на МУРЗ, и предложены технологии и компоненты, с испо...