Авторам
Редакция
О журнале
Реклама
Спецпроект Microchip
Спецпроект LTSpice
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
DSP и обработка сигналов
JTAG тестирование
RFID и системы идентификации
АЦП и ЦАП
Беспроводные технологии
Встраиваемые системы
ВЧ и СВЧ компоненты
Датчики
Дисплеи
Защита по току и напряжению
Измерительное оборудование
Интерфейсы
Источники питания
Пассивные компоненты
Микроконтроллеры
Микропроцессоры
Микросхемы памяти ОЗУ и ПЗУ
Операционные усилители
Светотехника
Осциллографы
Печатные платы и монтаж
ПЛИС и ПАИС
ПЛК и промышленные компьютеры
Разъемы
Рынок электронных компонентов
САПР
Силовая электроника
Специализированные микросхемы
Схемотехника и проектирование
Телекоммуникации
Технологии
Электронные компоненты
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
Keko Varicon
Temex-Ceramics
ММП-Ирбис
Futaba
Molex
Cadence
ЭРЕМЕКС
ИНЕЛСО
Компэл
GSI Technology
АКРП
Microsemi
Fluke
Электровыпрямитель
Phytec
Alliance Memory
ASML
Rakon
Coupletech
Прософт
ЕА-Elektro-Automatik
НТЦ «Модуль»
Waka
Glenair Inc.
Radiall
Sintrones
Wieland
Active Technologies
Litemax Electronics
Semicom
Реклама
АЦП последовательного приближения с алгоритмом измерения Sub‑2 radix
Настоящая статья посвящена сравнению характеристик аналого-цифровых преобразователей (АЦП) последовательного приближения с двоичным алгоритмом измерения и с алгоритмом Sub 2 radix.