Авторам
Редакция
О журнале
Реклама
Спецпроект Microchip
Спецпроект LTSpice
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
DSP и обработка сигналов
JTAG тестирование
RFID и системы идентификации
АЦП и ЦАП
Беспроводные технологии
Встраиваемые системы
ВЧ и СВЧ компоненты
Датчики
Дисплеи
Защита по току и напряжению
Измерительное оборудование
Интерфейсы
Источники питания
Пассивные компоненты
Микроконтроллеры
Микропроцессоры
Микросхемы памяти ОЗУ и ПЗУ
Операционные усилители
Светотехника
Осциллографы
Печатные платы и монтаж
ПЛИС и ПАИС
ПЛК и промышленные компьютеры
Разъемы
Рынок электронных компонентов
САПР
Силовая электроника
Специализированные микросхемы
Схемотехника и проектирование
Телекоммуникации
Технологии
Электронные компоненты
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
Гириконд
Александер Электрик
Plessey Semiconductors Ltd.
Samsung Display
НИИМА «Прогресс»
Winmate
RUICHI
ВЗПП
Syfer
Tianma Microelectronics
Cervoz
OEwaves
НПК «Марафон»
Sonitron
ACTEL
ZEZ SILKO
GSI Technology
НПО «ЭРКОН»
ММП-Ирбис
Оптрон-Ставрополь
Abracon Corporation
Ortus Technology
Carlisle
Beisit Electric Tech
Выставки
SEMIKRON
BIWIN
МосЭП
AnaPico
Sencera
Реклама
Первая в России конференция пользователей систем периферийного сканирования
2 июня 2015 года в Санкт-Петербурге прошла первая всероссийская конференция пользователей систем периферийного сканирования JTAG Technologies. Мероприятие собрало инженеров более чем 20 отечественных предприятий.