Стандарт тестопригодного проектирования IEEE P1687
Впервые о разработке нового JTAG-стандарта IEEE Р1687, который обещает стать, в сущности, первым стандартом тестопригодного проектирования (DFT), было упомянуто в начальной колонке рубрики «JTAG-тестирование» в [КиТ. 2009. № 2] более года назад, где на рис. 1 была приведена схема взрывообразного развития технологий JTAG-тестирования, а вкратце рассказано об этом стандарте в [КиТ. 2009. № 3]. Ра...

отправка...