Решение Tektronix для тестирования новой шины SuperSpeed USB

Компания Tektronix усовершенствовала ряд своих решений для тестирования USB 3.0, включая первое в отрасли решение для тестирования передатчиков в соответствии со спецификациями SuperSpeedPlus 10 Гбит/с. Также добавлена новая функция декодирования данных USB 3.0 на основе осциллографа и расширенное решение для автоматизированного тестирования передатчиков SuperSpeed USB, повышающее производительность тестирования на 60%.

Более высокая скорость передачи данных USB 3.0 порождает новые проблемы тестирования, в основном связанные с ростом потерь в канале и уменьшением соотношения сигнал/шум, а также с усложнением процесса тренировки канала и ужесточением требований к синхронизации, которые необходимо контролировать. С уменьшением диапазона устойчивой работы как никогда остро встает вопрос о системе, способной выполнять точные измерения в полном соответствии со стандартом. Решение Tektronix SuperSpeedPlus USBtest (опция SSP) полностью отвечает всем этим требованиям.

В связи с ужесточением требований к синхронизации и ростом сложности устройств, у инженеров появилась потребность в гибких инструментах, работающих с разными уровнями протокола шины и ускоряющих диагностику проблем. ПО декодирования данных USB 3.0 компании Tektronix упрощает отладку, позволяя выполнять запуск по событиям протокола, предоставляет функции поиска и навигации и поддерживает многоуровневое декодирование. Это открывает доступ ко всему стеку протокола с полной корреляцией по времени и отображением аналогового сигнала на одном экране.

Новое ПО автоматизации TekExpress USB (опция USB-TX), созданное на основании многолетнего опыта компании Tektronix в области тестирования на соответствие стандарту USB, использует новую программную архитектуру, значительно повышающую производительность, и увеличивает скорость тестирования до 60%. Например, ранее тесты передатчиков USB 3.0 занимали 12 минут, а теперь, с новым ПО TekExpress, всего пять.