Подписка на новости

Опрос

Нужны ли комментарии к статьям? Комментировали бы вы?

Реклама

 

2012 28 май

Платформа IC-CAP 2012 для характеризации и моделирования электронных компонентов

Компания Agilent объявила о начале поставок последней версии платформы для экстракции параметров электронных компонентов IC-CAP. В новой версии САПР IC-CAP реализованы радикальные изменения в способах хранения, анализа и выбора данных для моделирования, что значительно повышает производительность рабочего процесса и обеспечивает целостность данных и масштабируемость результатов моделирования. Модуль WaferPro — решение для автоматизированных измерений — входит в состав САПР IC-CAP и имеет доступ к базе данных SQL, созданной в модуле IC-CAP Database.

Еще один новый модуль, который интегрируется с IC-CAP Database, называется DataPro. С помощью этого модуля производится быстрый анализ и выбор данных для процесса экстракции параметров конечной модели.

Платформа IC-CAP 2012 для характеризации и моделирования электронных компонентов

Точное описание процесса изменения параметров технологического процесса при моделировании современных технологий изготовления полупроводниковых приборов стало главным требованием разработчиков. На ранних этапах процесса моделирования ПО IC-CAP WaferPro дает возможность инженерам выполнить комплекс разнообразных измерений и собрать большой объем данных для статистического анализа. Запись этой информации непосредственно в базу данных упрощает ее хранение, повышает безопасность и удобство работы с ней, а также позволяет чрезвычайно быстро выполнять сложные поисковые запросы. ПО DataPro помогает определять и отбраковывать кристаллы с физическими дефектами или со значительными отклонениями характеристик от среднестатистических значений. Далее программа выполняет статистический анализ данных заданного типа и определяет типовой (эталонный) кристалл и кристалл с максимальными допустимыми отклонениями, чтобы использовать их параметры для экстракции модели.

Быстрый анализ и выбор данных

Новый модуль Agilent W8503 IC-CAP DataPro может напрямую обращаться к базе данных или библиотеке файлов. Удобный интерфейс позволяет пользователю выбирать информацию нужного типа для статистического анализа. Можно выбрать, например, информацию, представленную в виде графиков ВАХ (зависимость Id от Vd) или конкретные значения, например Vth или Idmax. Модуль запускает статистический анализ выбранных данных и рассчитывает математические ожидания и дисперсии. Результаты могут быть представлены пользователю в графической форме, например в виде гистограмм, так, чтобы пользователь мог просматривать и сами данные, и их распределение, и при этом проводить отбраковку. Далее модуль определяет типовой образец кристалла, чтобы использовать его для экстракции модели типового изделия, и кристалл с максимально допустимыми отклонениями для моделирования предельных отклонений.

Новые возможности IC-CAP 2012.01

В дополнение к модулю DataPro и поддержке базы данных SQL у IC-CAP 2012.01 появились новые возможности и усовершенствования, например, сократился объем оперативной памяти, необходимой для работы программы (в пять раз), что позволило загружать объемные файлы с данными, и появился драйвер для параметрических анализаторов серии Agilent B2900A. Также были усовершенствованы уже имеющиеся драйверы для анализаторов источников питания постоянного тока, которые теперь поддерживают измерения во временной области и измерения с более высоким разрешением. Кроме того, для IC-CAP 2012.01 вводится новый упрощенный порядок лицензирования и изменяется структура продукта. Основные измерения включают введение новых модулей.

  • Пакет программ моделирования Modeling Suite заменен новым пакетом W8500.
  • В составе платформы появился новый программный продукт — W8520 Instrument Connectivity, в который входят все драйверы.
  • Во все пакеты экстракции для КМОП-структур включены пакеты для Target и Corner моделирования.

Платформа Agilent IC-CAP — это программное обеспечение для моделирования компонентов, предоставляющее разработчику мощные инструменты для описания и анализа параметров полупроводниковых приборов. Обеспечивая эффективную и точную экстракцию параметров моделей активных компонентов и схем, IC-CAP решает многочисленные задачи моделирования, включая управление контрольно-измерительными приборами, сбор данных, графический анализ, моделирование и оптимизацию. IC-CAP используется при разработке и производстве интегральных схем для расчета параметров технологических процессов.