Подписка на новости

Опрос

Нужны ли комментарии к статьям? Комментировали бы вы?

Реклама

 

2013 03 июл

Расширение возможностей параметрического анализатора Agilent Technologies

AT_03_07_13

Компания Agilent Technologies, Inc. объявила об усовершенствовании модулей источников/измерителей (SMU) и ПО для своего анализатора Agilent B1500A — ведущего в отрасли параметрического анализатора полупроводниковых приборов.

B1514A, новый модуль источника/измерителя со средним значением тока и длительностью импульсов от 50 мкс, обеспечивает измерение параметров коротких импульсов при напряжении до 30 В и токе до 1 A, а также отображение измеряемых величин в режиме осциллографа. Модуль источника/измерителя средней мощности B1511B обеспечивает измерение малых значений тока с разрешением от 0,1 фА при использовании дополнительного модуля коммутатора и измерителя аттоамперных токов. Версия 5.5 ПО EasyEXPERT позволяет выполнять дистанционное тестирование без сложного программирования как в ручном режиме, так и с применением более 300 готовых к использованию прикладных тестов.

Новый анализатор B1500A поддерживает все виды параметрического тестирования, обеспечивая измерение вольт-амперных характеристик (ВАХ) в диапазоне от 0,1 фА до 1 А и от 0,5 мкВ до 200 В, емкости в диапазоне частот от 1 кГц до 5 МГц, а также сверхбыстрые измерения импульсных ВАХ и ВАХ переходных процессов вплоть до наносекундного диапазона.

Усовершенствование анализатора полупроводниковых приборов B1500A включают добавление следующих возможностей:

  • Быстрые импульсные измерения с использованием модуля источника/измерителя со средним значением тока и длительностью импульсов от 50 мкс B1514A. Прибор позволяет проводить импульсные измерения при длительности импульсов от 50 мкс, что в 10 раз меньше, чем длительность импульсов аналогичных обычных источников/измерителей. Кроме того, он обеспечивает измерения в широком диапазоне (до 30 В/1 А) с возможностью программирования значений выходного напряжения и тока. Измерение импульсных ВАХ обычно требуется при определении характеристик современных материалов и устройств. Модуль B1514A поддерживает режим осциллографа ПО EasyEXPERT, который позволяет визуально отслеживать формы сигналов напряжения и тока. Благодаря этой функции пользователи имеют возможность быстро и просто оптимизировать параметры установки для импульсных измерений.
  • Измерение очень малых значений тока от 0,1 фА с использованием модуля источника/измерителя средней мощности B1511B в сочетании с модулем коммутатора и измерителя аттоамперных токов. Эти приборы обеспечивают высокую точность определения характеристик малых токов (например, токов утечки), что позволяет сократить сроки исследований и разработки перспективных устройств.
  • Удобство определения характеристик устройств с помощью программного обеспечения EasyEXPERT 5.5. Обновленное ПО имеет функцию дистанционного управления при выполнении встроенных прикладных тестов, графический пользовательский интерфейс для управления матричным коммутатором, а также расширенную библиотеку приложений. При использовании совместно с модулем источника/измерителя со средним значением тока и длительностью импульсов от 50 мкс B1514A программа поддерживает отображение измеряемых величин в режиме осциллографа. Программа EasyEXPERT на основе графического пользовательского интерфейса работает в операционной системе Windows 7 и обеспечивает эффективное и воспроизводимое определение характеристик устройств в различных режимах — от интерактивных ручных измерений до полуавтоматических испытаний на пластине.

Анализатор полупроводниковых приборов B1500A с модулями источников/измерителей B1514A и B1511B в сочетании с программным обеспечением EasyEXPERT представляет собой универсальное, функционально законченное решение для измерения параметров различных устройств с высокой точностью, эффективностью и воспроизводимостью. Анализатор поддерживает все современные методы параметрического тестирования для определения электрических характеристик различных электронных устройств, материалов, полупроводниковых приборов, активных/пассивных компонентов и схем.