Подписка на новости

Опрос

Нужны ли комментарии к статьям? Комментировали бы вы?

Реклама

 

2010 24 мар

Расширены возможности головки ZIF для пробника ADI

Компания Agilent Technologies представила новый пробник с гибкими выводами для анализаторов PCI Express (PCIe) 2.0 серии E2960B, использующий головку с нулевым усилием сочленения (ZIF). В новом пробнике применена технология Agilent Infiniimax ZIF, позволяющая использовать одни и те же контрольные точки для физических измерений и отладки протокола. Это упрощает диагностику в таких ситуациях, когда неизвестно, где возникла проблема, на физическом уровне или на уровне протокола. Новые пробники поддерживают шину PCI Express со скоростями обмена 2,5 и 5 ГТ/с.

Расширены возможности головки ZIF для пробника ADI

Одна из основных сложностей отладки шин PCIe 2.0 заключается в том, что нужно установить, чем вызвана проблема: логическими ошибками проектирования или нарушением целостности сигнала на физическом уровне. Выявление истинных причин проблемы особенно затруднено во встроенных системах, которые используются в медицинских приборах, а также в военной технике и средствах связи. Новые пробники компании Agilent позволяют использовать одни и те же припаиваемые наконечники с осциллографом для измерения физического уровня и с анализатором протокола для выявления проблем, связанных с протоколом.

На скоростях, присущих шине PCIe 2.0, особое значение приобретает надежность снятия сигнала. Без надежного контакта и соответствующего форм-фактора достоверная регистрация данных сильно затрудняется или вообще становится невозможной. Новые ZIF-пробники компании Agilent обеспечивают надежную регистрацию сигналов, облегчают доступ к контрольным точкам и обладают следующими преимуществами:

  • Очень малая емкостная нагрузка позволяет выполнять измерения, не влияя на контролируемые сигналы.
  • Легко отделяемая головка (ZIF) защищает разъем пробника и обеспечивает многократное применение.
  • Удлиненные выводы и длина кабеля самого пробника облегчают доступ к контрольным точкам.
  • Удлиненная головка (ZIF) обеспечивает доступ к контрольным точкам разного типа.

Задача снятия сигнала имеет значение для получения достоверных результатов измерений, что очень важно для отладки шин PCIe 2.0. Представив ZIF-пробники с гибкими выводами, компания Agilent смогла предложить уникальную линейку изделий для PCIe 2.0, включая полноразмерные пробники (прямые, изогнутые и разделенные), шинные пробники половинного размера, слотовые переходники, пробники с гибкими выводами, а теперь и пробники ZIF с гибкими выводами. Решения компании Agilent для шины PCIe 2.0 сочетают в себе мощную и надежную систему сбора данных, простой графический интерфейс пользователя и универсальный форм-фактор, что позволяет анализаторам серии Agilent E2960B занять лидирующее положение в сфере тестирования и отладки PCI Express 2.0.