Подписка на новости

Опрос

Нужны ли комментарии к статьям? Комментировали бы вы?

Реклама

 

1970 01 янв

Предварительная программа II Всероссийской конференции «Тестирование и испытание изделий электронной техники».

  • Обзор НТД по испытанию и тестированию изделий электронной техники (ИЭТ) на всех стадиях жизненного цикла.
  • Входной контроль компонентов и комплектующих узлов.
    • Элементы входного контроля при внутрисхемном тестировании. Докладчик: представитель ЗАО «Остек-Электро».
    • Практический опыт применения диагностического неразрушающего контроля в испытаниях ЭКБ». Докладчик: Иван Булаев, ОАО «Российские космические системы».
  • Механические испытания, в том числе динамические.
  • Климатические испытания.
  • Испытания на надежность.
    • Автоматизация испытаний ЭКБ на надежность в испытательном центре. Докладчик: Андрей Кулибаба, ОАО «Российские космические системы».Испытания на электробезопасность.
  • Испытания на электромагнитную совместимость.
  • Функциональные тесты и испытания.
    • Наборы «сделай сам» для изготовления оснастки для функционального контроля, особенности проектирования спецоснастки для тестирования серийно выпускаемого изделия. Докладчик: представитель ЗАО «Остек-Электро».
    • Тестирование моточных изделий и электрических машин. Докладчик: представитель ЗАО «Остек-Электро».
    • Современные автоматы для внутрисхемного тестирования. Докладчик: представитель ЗАО «Остек-Электро».
  • Особенности и требования к испытанию и тестированию спецтехники. Докладчик: представитель ОАО «Субмикрон».
  • Электроконтроль
    • JTAG-тестирование на уровне многоплатных систем: практический опыт. Докладчик: Виктор Ли, НПП НТТ.
    • Интеграция периферийного сканирования с другими методами структурного тестирования. Докладчик: Алексей Иванов, JTAG Technologies.
  • Программно-аппаратные средства проведения испытаний.
    • Мастер-класс по работе в бесплатной программе JTAG Live Buzz. Ведущий: Гиви Чхутиашвили, JTAG Technologies.