Подписка на новости

Опрос

Нужны ли комментарии к статьям? Комментировали бы вы?

Реклама

 

2011 24 мар

Семинар «Электрическое тестирование и технология JTAG, практические аспекты, выбор оборудования»

Время проведения: 17 мая 2011 года.

Место проведения: г. Москва, Молдавская ул., д. 5, стр. 2 (ЗАО «Предприятие Остек»).

Организаторы: компания JTAG Technologies совместно с ЗАО «Предприятие Остек».

Диагностика современных цифровых изделий с использованием стандартных измерительных средств уже давно потеряла требуемую эффективность, поскольку приводит к большим потерям времени при поиске и локализации дефектов, существенно повышает стоимость ремонтных операций и затягивает сроки поставок готовой продукции. Необходимы новые подходы к тестированию и новые средства автоматизированного контроля, позволяющие кардинально повысить тестовое покрытие, контролировать максимальное количество цепей и компонентов, без необходимости создания вручную специализированных тестов функционального контроля.

Семинар «Электрическое тестирование и технология JTAG, практические аспекты, выбор оборудования»

Еще в начале 1990-х был разработан метод периферийного (граничного) сканирования для изделий на базе ПЛИС, процессоров и микроконтроллеров. Автоматизированные средства для использования данного метода совершенствуются и по сей день. Теперь уже не нужно открывать учебники, изучать стандарты периферийного сканирования, работу JTAG-интерфейса, вручную писать тестовые программы, оперируя большими массивами из последовательностей нулей и единиц — всю основную работу машина сделает сама. И это будет наглядно продемонстрировано на семинаре.

Сегодня специалисты очень часто должны решать следующие вопросы: с чего начать? как определить, для каких именно изделий предназначено JTAG-тестирование? какие важные моменты следует учесть и что еще можно улучшить?

На плате, помимо компонентов с поддержкой периферийного сканирования, есть память, логика, интерфейсы и многое другое. В большинстве случаев (в особенности с новейшими возможностями программных средств JTAG) они тоже могут быть протестированы. Простые рекомендации помогут определить, какие участки платы можно протестировать и как добиться большего покрытия для других. Об основных моментах тестопригодной разработки будет рассказано на практических примерах, основанных на реальном опыте, в том числе и уже достаточно богатом – отечественном.

На семинаре будут даны рекомендации по выбору оборудования, его уровнях и степени автоматизации, в зависимости от выполняемых задач, что является на сегодняшний день одним из самых распространенных вопросов.

Так же будут рассмотрены и другие существующие методы электрического контроля, позволяющие тестировать как цифровые, так и аналоговые изделия и предусматривающие комплексный подход к тестированию. В демонстрационном зале будет показана работа современного тестового оборудования.

Участие в семинаре бесплатное, с обязательной предварительной регистрацией. Всем гостям будет предложен легкий ланч.

Зарегистрироваться on-line можно на сайтах:

www.jtag-technologies.ru и www.ostec-group.ru или по телефонам: (495) 788 4444, (812) 313 9159