Семинар «Инновационные контрольно-измерительные решения Agilent Technologies»

Компания Agilent Technologies приглашает на ежегодный трехдневный семинар «Инновационные контрольно-измерительные решения Agilent Technologies», который пройдет 12–14 октября 2010 года в Москве.

На семинаре специалисты Agilent Technologies расскажут о новейших контрольно-измерительных решениях, продемонстрируют работу приборов и ответят на вопросы участников. Кроме того, представители компании сообщат о последних достижениях Agilent Technologies, о которых будет объявлено в конце сентября 2010 года.

Семинар состоит из 3 полнодневных сессий, каждая из которых традиционно посвящена определенному кругу тем. Вы можете зарегистрироваться на все сессии либо выбрать те из них, которые представляют для вас наибольший профессиональный интерес.

Первый день семинара будет посвящен радиоизмерениям. Помимо докладов по новинкам среди анализаторов и генераторов сигналов, анализаторов цепей, а также модульных PXI/AXIe приборов, участникам семинара будет предоставлена возможность провести собственные измерения на представленных демонстрационных приборах.

Планируется оборудовать следующие измерительные стенды:

  • Анализ параметров цепей (анализаторы PNA-X и ENA).
  • Анализ и формирование сигналов на базе X-платформы (PXA, MXA, EXA, CXA).
  • Формирование и анализ широкополосных сигналов (векторный генератор ВЧ-сигналов серии PSG и анализатор сигналов серии PSA).
  • Анализ параметров источников сигналов и измерение фазовых и амплитудных шумов (E5052B).
  • Системы автоматизированного проектирования (ADS, Genesys, EMPro, SystemVue, IC-CAP).

Второй день будет посвящен новинкам в области осциллографии, логического и параметрического анализа, приборов общего назначения и автоматизации измерений.

Некоторые из новинок:

  • Новая серия осциллографов реального времени с полосой пропускания до 32 ГГц, реализованной по новейшей технологии на фосфиде индия. В этих осциллографах для расширения полосы пропускания впервые не использовались цифровые технологии — цифровые фильтры и чередование в частотной области, применение которых приводит к появлению значительного шума и искажений в исследуемых сигналах.
  • Широчайший спектр модульных приборов в стандарте PXI и AXIe: линейка из 47 приборов включает векторный анализатор сигналов, дигитайзеры, генераторы сигналов, цифровые мультиметры и коммутаторы. Дополняет модули дигитайзеров, выполненных в стандарте сPCI, VME, представленных ранее.
  • Анализатор питания постоянного тока N6705B с модулями источника-измерителя, оптимизированный для тестирования портативных аккумуляторных устройств и полупроводниковых устройств.
  • Генератор сигналов стандартной/произвольной формы 81180, предназначенный для формирования широкополосных сигналов, используемых в области радиолокации и спутниковой космической связи.

Тема заключительного дня — «Решения для тестирования телекоммуникаций и спектрального мониторинга»:

  • Тестирование сигналов мобильной связи 3G и 4G (на базе анализаторов сигналов X-платформы и программных приложений).
  • Портативные анализаторы спектра, цепей, антенно-фидерные устройства.
  • Спектральный мониторинг и геолокация.
  • Обзор РЧ-сенсоров и новые алгоритмы геолокации (приемник N6841A, геолокационный сервер на базе N6854A).
  • Система спектрального мониторинга E3238S/N6820E: общий обзор и новые возможности по классификации и декодированию.
  • Демонстрация работы системы.
  • Новейшая система для спектрального мониторинга N7100, представленная в июле 2010 года.

В рамках темы по спектральному мониторингу будут рассмотрены общие принципы и методы спектрального мониторинга, в том числе захват и определение параметров кратковременных сигналов и сигналов с перескоком частоты, функции классификации сигналов, узкополосная и широкополосная запись сигналов.

Для участия в семинаре необходимо зарегистрироваться на сайте компании с 1 октября 2010 года.

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *