Семинар «Организация службы анализа отказов комплектующих при производстве электронной аппаратуры»

Информационно-аналитический «Центр Современной Электроники» приглашает специалистов по управлению качеством, а также специалистов по закупкам комплектующих на семинар «Организация службы анализа отказов комплектующих при производстве электронной аппаратуры», который пройдет 9 апреля 2015 года в Москве.

Место проведения: Москва, ГК «Измайлово-Альфа» (Измайловское шоссе, 71 корп. А).

Основные вопросы семинара:

  • Принципиальные подходы к анализу качества и причин отказов комплектующих изделий.
  • Аналитическое подразделение службы качества.
  • Методы анализа комплектующих изделий.
  • Особенности анализа отдельных типов и групп комплектующих изделий.
  • Проблема контрафакта (поддельных комплектующих изделий).
  • Базы данных аналитической службы качества, информационные системы.
  • Обработка и использование результатов анализа отказов комплектующих изделий.
  • Оценка и отбор поставщиков комплектующих изделий.

Докладчик семинара — Василий Моисеевич Баландин, начальник аналитического бюро службы качества ОТК, ОАО «ОмПО «Иртыш»».

Для участия в семинаре необходимо скачать со страницы семинара бланк заявки и отправить его по адресу: forum@sovel.org. или по факсу: +7 (495) 280-04-19.

План семинара и информация о докладчике доступны на сайте.

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *